Vollständige Fehlerabdeckung
Hoher Durchsatz. Hohe Skalierbarkeit.

 

 

Highlights

  1. Paralleltests reduzieren die Testkosten
  2. Multifunktion: vollständige Fehlerabdeckung
  3. Kundenspezifisch konfigurierbar & flexibel nachrüstbar
  4. Test von Leistungselektronik mit den SPEA Power-Modulen
  5. Automatische Testprogrammerstellung
  6. Parallele Programmierung von ICs unterschiedlichen Typs

Multifunktions-Testmöglichkeiten:
100 %ige Abdeckung mit nur 1 System.

Der SPEA 3030 Multimode ist ein multifunktionales, modular aufgebautes Testsystem, das kundenspezifisch konfiguriert werden kann. Es bietet eine vollständige Fehlerabdeckung in Kombination mit minimierten Testkosten.

GELD SPAREN – Warum mehrere Tester kaufen, wenn Sie nur einen benötigen? Mit dem SPEA 3030 Inline können sämtliche Tests durchgeführt werden: Incircuit-, Cluster- und Funktionstest, sowie On-Board-Programmierung und Boundary Scan. Im Vergleich zu mehreren Teststationen sind die Vorteile enorm: kein zusätzliches Bedienpersonal, ein einziges Testprogramm, reduzierte Stellfläche und geringere Betriebskosten.

ZEIT SPAREN – Drastische Reduzierung der Testzeit mit dem SPEA 3030 Inline.
Die SPEA-spezifische Systemarchitektur mit speziellen Prozessoren ermöglicht die Durchführung unterschiedlicher Prüfabläufe. Redundanzen, zeitaufwändiges Handling und Prüfung von Baugruppen auf mehreren Teststationen entfallen. Die Baugruppen durchlaufen ein einziges Mal den SPEA 3030 Inline und werden komplett und effizient geprüft.

REDUZIERUNG VON FELDRÜCKLÄUFERN – Der SPEA 3030 wurde entwickelt, um Elektronikherstellern zu helfen, die Qualität ihrer Produkte zu sichern. Durch den Einsatz von innovativen Testtechniken findet der SPEA 3030 zuverlässig Fehler, die von konventionellen ICT-Testern nicht erkannt werden können.

Quad-Core für Paralleltests

Der SPEA 3030 Multimode kann mit bis zu 4 Cores ausgestattet werden, jeder davon mit unabhängiger CPU, lokalem Speicher und Instrumentierung. Damit können parallel bis zu 4 Baugruppen geprüft werden. Damit werden die Testkosten um bis zu 75% reduziert verglichen mit Standard-ICT-Testern. Sie benötigen nur einen Tester, einen Handlingvorgang, einen Adapter und einen PC, um vier Baugruppen gleichzeitig zu testen.

Paralleles Flashen mehrerer Komponenten

Der SPEA 3030 Multimode kann mit einem oder mehreren Flashing-Modulen bestückt werden. Damit können gleiche und auch unterschiedliche Komponenten parallel programmiert werden. Flashing-Zeiten und Kosten werden erheblich reduziert.

PC-unabhängige Architektur

Bei der PC-unabhängigen Architektur des SPEA 3030 läuft das Testprogramm in der CPU des Testers und die Testgeschwindigkeit wird von dieser bestimmt. Dadurch ist auch sichergestellt, dass PC-Hintergrundprogramme die Testgeschwindigkeit nicht beeinflussen. Darüber hinaus kann der PC jederzeit aktualisiert oder ausgetauscht werden, ohne dass ein erneutes Debugging von Testprogrammen notwendig ist.

Kundenspezifisch konfigurierbar & flexibel nachrüstbar

Die kompromisslose Flexibilität unserer Tester gewährleistet eine individuelle Konfiguration, die den jeweiligen Testanforderungen optimal entspricht. Entweder Sie konfigurieren Ihren Tester komplett beim Kauf oder sie rüsten sukzessive nach – alles ist möglich. Messinstrumente von Drittanbietern können ebenfalls problemlos integriert werden.
Herausragend sind die vielfältigen Adaptionsmöglichkeiten wie zum Beispiel Schubladenreceiver, Steckerinterface. Inline-Kontaktiereinheit, Pylon-Interface aber auch kundenspezifische Schnittstellen oder Receiver von Drittanbietern (Genrad, Ingun, Zentel, usw.)

Präzise Kontaktierung mit Receivern von SPEA

Die Kontaktiereinheiten sind direkt im Testsystem integriert. Das bedeutet es gibt keine störenden Kabel zwischen den Systemmodulen und der Adaption. Die Signalintegrität ist garantiert. Testsystem und Adaption werden von SPEA als zuverlässige und kostengünstige schlüsselfertige Testlösung geliefert.
Die Kontaktierung der Baugruppe ist sicher und präzise. Beim elektromechanischen SPEA-Schubladenreceiver kann die Andruckgeschwindigkeit prüflingsspezifisch eingestellt werden.
Die Absenkung erfolgt immer absolut planar. Der Kontaktierlevel ist in Schritten von 100 µm frei programmierbar. Dadurch können unterschiedliche Kontaktierebenen realisiert werden, beispielsweise für die 2-Stufenkontaktierung beim Funktionstest.

Reduzierung von Feldrückläufern

Reduzierung von Feldrückläufern – Der SPEA 3030 Multimode wurde entwickelt, um Elektronikherstellern zu helfen, die Qualität ihrer Produkte zu sichern. Durch den Einsatz von innovativen Testtechniken findet der SPEA 3030 Multimode zuverlässig Fehler, die von konventionellen ICT-Testern nicht erkannt werden können.

Testperformance

  • Boundary Scan
    Boundary Scan wird eingesetzt wenn ein physikalischer Zugriff auf einzelne Schaltungsteile nicht möglich ist. So können hochkomplexe Baugruppen, Fine-Pitch-Technologie, Multilayer und BGAs ohne direkte Kontaktierung der Prüfnadeln getestet werden. Der parallele Einsatz der Boundary Scan-Technik und der Systemmodule des SPEA 3030 Multimode ermöglicht eine breitere Fehlerabdeckung bei gleichzeitiger Reduzierung der Adapterkosten (virtuelle Testpunkte anstelle von realen Testnadeln).
  • Open-Pin-Erkennung
    Es stehen zwei unterschiedliche Testtechniken zur Verfügung, um ungelötete Pins (Open Pins) und andere Prozessfehler eindeutig zu identifizieren: Electro Scan und Junction Scan.
  • Funktionstest
    Der SPEA 3030 Multimode bietet nicht nur Funktionstests auf Bauteilebene, sondern auch auf Cluster- und Boardebene. Die Parametrierung erfolgt in der Systemsoftware Leonardo oder wahlweise mittels höherer Programmiersprachen wie Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView usw.
  • True-Per-Pin-Architektur
    Garant für zuverlässige Tests komplexer analoger oder digitaler Baugruppen ist die direkte Pinelektronik von SPEA. Nicht gemultiplext stellt die Pinelektronik an jedem Kanal (1:1) einen völlig unabhängigen Stimuli- und Messkanal bereit. Das bietet mehrere Vorteile: schnellere Testgenerierung, einfaches ECO-Management, volle Flexibilität.
  • Parametrischer ICT in Höchstgeschwindigkeit
    Der parametrisch-dynamische High-Speed ICT des SPEA 3030 Inline prüft die Parameter jedes einzelnen Bauteils gemäß Datenblatt. Diese Tests werden mit Hilfe von Bauteilbibliotheken automatisch generiert. Das bedeutet kurze Programmerstellungszeiten, kurze Testzeiten und höchste Fehlerabdeckungsraten.
  • Übernahme von Testprogrammen und Adaptern auf andere Tester
    Die SPEA-Tester basieren auf einer gemeinsamen Systemarchitektur. Die Hard- und Softwareplattform ist so konzipiert, dass Testprogramme und Adapter von einem System zum anderen übertragen werden können. Bei den Testprogrammen gilt dies nicht nur innerhalb der SPEA 3030-Systemfamilie, sondern auch zwischen Board- und Flying Probe-Testern. Das ermöglicht größtmögliche Flexibilität in der Produktion.

 

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