Couverture complète des erreurs
Débit élevé. Grande évolutivité.
Points forts du SPEA 3030M
- Les tests parallèles réduisent les coûts des tests
- Multifonction : couverture complète des erreurs
- Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur
- Test de l’électronique de puissance avec les modules de puissance SPEA
- Création automatique de programmes de test
- Programmation en parallèle de circuits intégrés de différents types
Possibilités de test multifonctions :
couverture à 100 % avec un seul système.
Le système de test DSPEA 3030M est un système multifonctionnel et modulaire qui peut être configuré selon les besoins spécifiques du client. Il offre une couverture complète des erreurs combinée à des coûts de test minimisés.
ÉCONOMISEZ DE L’ARGENT – Pourquoi acheter plusieurs testeurs si vous n’en avez besoin que d’un seul ? Le SPEA 3030M Inline permet d’effectuer tous les tests : tests en circuit, tests de grappes et tests fonctionnels, ainsi que la programmation embarquée et le boundary scan. Par rapport à plusieurs stations de test, les avantages sont énormes : pas d’opérateur supplémentaire, un seul programme de test, un encombrement réduit et des coûts d’exploitation moindres.
GAIN DE TEMPS – Réduction considérable du temps de test avec le SPEA 3030 Inline.
L’architecture système spécifique à SPEA, dotée de processeurs spéciaux, permet d’effectuer différents cycles de test. Les redondances, les manipulations fastidieuses et les contrôles de sous-ensembles sur plusieurs stations de test sont supprimés. Les sous-ensembles passent une seule fois par le SPEA 3030 Inline et sont contrôlés complètement et efficacement.
RÉDUCTION DES DÉFAUTS DE PRESSION – Le SPEA 3030M a été développé pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être détectées par les testeurs ICT conventionnels.
Quad Core für parallele Tests
Le SPEA 3030 multimode peut être équipé de jusqu’à 4 cœurs, chacun d’entre eux disposant d’une unité centrale indépendante, d’une mémoire locale et d’une instrumentation. Il est ainsi possible de contrôler jusqu’à 4 sous-ensembles en parallèle. Cela permet de réduire les coûts de test jusqu’à 75% par rapport aux testeurs ICT standard. Vous n’avez besoin que d’un testeur, d’une procédure de manipulation, d’un adaptateur et d’un PC pour tester quatre ensembles simultanément.
Flasher plusieurs composants en parallèle
Le SPEA 3030 multimode peut être équipé d’un ou de plusieurs modules de flashage. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.
Architecture indépendante du PC
Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.
Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur
La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de chaque test. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Les instruments de mesure d’autres fabricants peuvent également être intégrés sans problème.
Les nombreuses possibilités d’adaptation, telles que les récepteurs à tiroir ou les interfaces enfichables, sont remarquables. Unité de contact en ligne, interface Pylon mais aussi interfaces spécifiques au client ou récepteurs de fournisseurs tiers (Genrad, Ingun, Zentel, etc.)
Un contact précis avec les récepteurs de SPEA
Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.
Réduction des retours sur le terrain
Réduction des retours sur le terrain – Le SPEA 3030 multimode a été conçu pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 multimode détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être identifiées par les testeurs ICT conventionnels.
Performance du test
- Balayage des limites
Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technique boundary-scan et des modules système du SPEA 3030 multimode permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles). - Détection des broches ouvertes
Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan. - Test fonctionnel
Le SPEA 3030 Multimode permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc. - Architecture True-Per-Pin
La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale. - ICT paramétrique à vitesse maximale
L’ICT paramétrique dynamique à haute vitesse du SPEA 3030 Inline vérifie les paramètres de chaque composant individuel conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés. - Transfert de programmes de test et d’adaptateurs vers d’autres testeurs
Les testeurs SPEA reposent sur une architecture système commune. La plateforme matérielle et logicielle est conçue de manière à ce que les programmes de test et les adaptateurs puissent être transférés d’un système à l’autre. Pour les programmes de test, cela ne vaut pas seulement au sein de la famille de systèmes SPEA 3030, mais aussi entre les testeurs Board et Flying Probe. Cela permet une flexibilité maximale dans la production.
