SPEA 3030 Compact – Faible encombrement, couverture élevée des défauts

Points forts

1. Double test parallèle
2. Faible encombrement
3. ICT paramétrique à haute vitesse
4. Développement automatique d’applications
5. Multiples méthodes de contrôle : ICT, FKT, flashage

Compact. Puissant.

Le SPEA 3030 Compact est conçu pour le test d’incircuits rapide et économique. Avec un faible encombrement, il offre un maximum de possibilités de test. Le testeur est modulaire, configurable selon les besoins du client et, grâce aux tests parallèles dual core, il permet de doubler le débit des testeurs ICT ordinaires avec une couverture des erreurs de 100%.

Tests parallèles

Le SPEA 3030 Compact peut être configuré en tant que système multi-cœur avec jusqu’à 2 cœurs indépendants – chacun avec une unité centrale, une mémoire locale et une instrumentation indépendantes.

Réduire les coûts des tests

Grâce à l’architecture multi-cœur, les coûts de test sont réduits de manière drastique. Il suffit d’un testeur, d’une procédure de manipulation, d’un adaptateur et d’un PC pour tester deux ensembles simultanément.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

Réduction des retours sur le terrain

Réduction des retours sur le terrain – Le SPEA 3030 Compact a été conçu pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 Compact détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être détectées par les testeurs ICT conventionnels.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030 Compact peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Un contact précis avec les récepteurs de SPEA

Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

ICT paramétrique à vitesse maximale

L’ICT paramétrique dynamique à grande vitesse du SPEA 3030 Compact contrôle les paramètres de chaque composant conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.

Performances de test du SPEA 3030 Compact

• Architecture True-Per-Pin
  La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale.
• Détection des broches ouvertes
  Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan.
• Test fonctionnel
  Le SPEA 3030 Compact permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc.
• Configurable selon les besoins du client et pouvant être équipé ultérieurement de manière flexible
  La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de test respectives. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Les instruments de mesure de fabricants tiers peuvent également être intégrés sans problème.
  Les nombreuses possibilités d’adaptation sont exceptionnelles, comme par exemple les récepteurs à tiroir, les interfaces enfichables, les unités de contact en ligne, les interfaces Pylon, mais aussi les interfaces spécifiques aux clients ou les récepteurs de fabricants tiers (Genrad, Ingun, Zentel, etc.).
• Balayage des limites
  Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technologie Boundary Scan et des modules système du SPEA 3030 Compact permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).
  Transfert des programmes de test et des adaptateurs vers d’autres testeurs
  Les testeurs SPEA sont basés sur une architecture système commune. La plateforme matérielle et logicielle est conçue de manière à ce que les programmes de test et les adaptateurs puissent être transférés d’un système à l’autre. Pour les programmes de test, cela ne vaut pas seulement au sein de la famille de systèmes SPEA 3030, mais aussi entre les testeurs Board et Flying Probe. Cela permet une flexibilité maximale dans la production.

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SPEA 3030BT – Les tests n’ont jamais été aussi faciles

Testeur en circuit SPEA 3030BT – compact, précis, puissant

Le testeur en circuit SPEA 3030BT est un testeur compact et économique destiné aux tests électroniques de précision. Malgré son faible encombrement, il offre toutes les performances de la série SPEA 3030. Grâce à sa technologie moderne, sa simplicité d’utilisation et sa flexibilité d’intégration, ce testeur est la solution idéale pour les environnements de production disposant d’un espace limité et soumis à des exigences de qualité élevées.

Des tests simples pour une efficacité maximale

Avec le testeur en circuit SPEA 3030BT, les tests n’ont jamais été aussi simples. Le logiciel Leonardo, très convivial, permet la création automatique de programmes de test et un débogage rapide. En quelques étapes seulement, le logiciel guide l’utilisateur depuis l’importation des données jusqu’à l’obtention d’un programme de test stable. Le système peut être connecté à un PC ou un ordinateur portable via USB et utilisé immédiatement – simple, efficace et fiable.

Performances de test élevées dans un espace réduit

Le testeur en circuit SPEA 3030BT nécessite un espace minimal et peut être utilisé aussi bien comme appareil de table que dans un rack standard 19 pouces. Sa conception ergonomique avec poignées frontales facilite son transport et en fait la solution idéale pour les environnements de production flexibles. Malgré sa taille compacte, le testeur fonctionne avec les mêmes modules matériels performants que les systèmes plus grands de la série SPEA 3030.

Architecture indépendante du PC pour des performances stables

Le processeur interne du testeur en circuit 3030BT garantit que le programme de test fonctionne indépendamment du PC. La vitesse de test reste ainsi constante, même si l’ordinateur connecté exécute d’autres processus ou est remplacé. Cette architecture augmente la sécurité de fonctionnement et minimise les temps d’arrêt dans le processus de production.

Détection fiable des erreurs et couverture des tests

Le testeur en circuit SPEA 3030BT offre des fonctions de test complètes, notamment :

• Test en circuit pour les courts-circuits, les broches ouvertes et les composants défectueux
• Détection des broches ouvertes par Electro Scan et Junction Scan
• Architecture True-Per-Pin avec canaux de mesure indépendants 1:1
• Instrumentation 16 bits et mesures à 8 fils pour une précision maximale

Ces technologies permettent d’identifier avec précision les erreurs de processus qui sont souvent négligées par les testeurs ICT traditionnels.

Modularité et pérennité

Grâce à son architecture modulaire, le testeur en circuit SPEA 3030BT peut être adapté de manière flexible aux besoins individuels. Les fabricants bénéficient d’une solution de test durable, facile à étendre et à moderniser – un investissement rentable à long terme.

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