Testeur en circuit SPEA T300 avec parallélisme maximal

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32 fois le test parallèle

Le testeur de cartes SPEA T300 possède une architecture de test unique en son genre, avec jusqu’à 32 cœurs de test incircuit parallèles et une capacité supplémentaire de 256 cœurs pour le flashing et les tests fonctionnels. Grâce à l’architecture parallèle asynchrone du SPEA T300, il est possible de tester et de flasher en parallèle jusqu’à 32 PCBA (Printed Circuit Board Assembly).

Le testeur de lit d’aiguilles SPEA T300 offre la technique unique ICT-Plus de SPEA, qui permet de trouver des défauts électroniques qui ne sont pas détectés par les tests ICT traditionnels.

Testez et flashez un grand nombre de modules en parallèle

De nombreux modules sont fabriqués dans le sens de la largeur, c’est-à-dire que peu ou beaucoup de modules sont assemblés dans le sens de la largeur pour former un grand circuit imprimé. Chacun de ces sous-ensembles individuels contient à son tour de quelques à d’innombrables composants et éléments qui doivent être contrôlés et programmés.

Le nouveau testeur de carte T300 de SPEA a été spécialement conçu pour les tests d’utilisation ou pour les tests et la programmation de nombreux modules en même temps. Il garantit ainsi un débit maximal et des coûts de test et de programmation minimaux.

 

 

Programmable comme station de test simple ou double

Le SPEA T300 peut être programmé comme station de test simple ou double.

Le mode Single Test Site permet de tester et de flasher une seule carte ICT et fonctionnelle.

Dual Test Side permet de tester deux platines en même temps. Cela vaut pour les TIC, la programmation flash et les tests fonctionnels. Pour doubler le débit, le testeur peut effectuer un split test. Par exemple, un ICT est effectué à la station 1 tandis qu’à la station 2, soit on flashe, soit on effectue un test de fonctionnement.

Test sans opérateur

Le SPEA T300 peut être configuré en plusieurs modes de fonctionnement automatisés qui fonctionnent sans opérateur

• Chargement en ligne – Déchargement en ligne
• Chargement à partir d’un rack – Déchargement en ligne ^[1]
• Chargement en ligne – Déchargement en rack ^{[1] [2]}
• Chargement depuis le rack – déchargement dans le rack ^{[1] [2]}

[1] Option : chargement du rack par robot
[2] Option : tri réussite/échec

Testeur in-circuit – connecté à l’écosystème numérique

Le SPEA T300 échange avec l’environnement industriel 4.0 et l’écosystème numérique – en termes d’informations, de notifications, d’ordres de programmation et d’instructions machine.

Le testeur possède des capteurs pour détecter et observer l’environnement, les pièces d’usure et les pièces mobiles, les alimentations électriques et pneumatiques et l’alimentation électrique interne et externe. Cela lui permet de

• Soutien à la maintenance prédictive
• détection en amont des erreurs qui entraîneraient des dysfonctionnements
• Estimation de l’usure et de la durée de vie restante des pièces de machines

Le SPEA T300 a été développé pour une utilisation durable et intensive, même dans des environnements de production difficiles. Facilité d’entretien – l’entretien peut être effectué facilement et rapidement.

ATOS Leonardo 4 ICT est la version T300 du logiciel système ATOS que SPEA a développé pour ses testeurs.

ATOS comprend toutes les fonctions de commande et de programmation dont on a besoin pour le testeur. On est ainsi indépendant de la version de Windows® ainsi que de la configuration et des performances du PC système.

 

 

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Couverture complète des erreurs
Débit élevé. Grande évolutivité.

Points forts du SPEA 3030M

1. Les tests parallèles réduisent les coûts des tests
2. Multifonction : couverture complète des erreurs
3. Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur
4. Test de l’électronique de puissance avec les modules de puissance SPEA
5. Création automatique de programmes de test
6. Programmation en parallèle de circuits intégrés de différents types

Possibilités de test multifonctions :
couverture à 100 % avec un seul système.

Le système de test DSPEA 3030M est un système multifonctionnel et modulaire qui peut être configuré selon les besoins spécifiques du client. Il offre une couverture complète des erreurs combinée à des coûts de test minimisés.

ÉCONOMISEZ DE L’ARGENT – Pourquoi acheter plusieurs testeurs si vous n’en avez besoin que d’un seul ? Le SPEA 3030M Inline permet d’effectuer tous les tests : tests en circuit, tests de grappes et tests fonctionnels, ainsi que la programmation embarquée et le boundary scan. Par rapport à plusieurs stations de test, les avantages sont énormes : pas d’opérateur supplémentaire, un seul programme de test, un encombrement réduit et des coûts d’exploitation moindres.

GAIN DE TEMPS – Réduction considérable du temps de test avec le SPEA 3030 Inline.
L’architecture système spécifique à SPEA, dotée de processeurs spéciaux, permet d’effectuer différents cycles de test. Les redondances, les manipulations fastidieuses et les contrôles de sous-ensembles sur plusieurs stations de test sont supprimés. Les sous-ensembles passent une seule fois par le SPEA 3030 Inline et sont contrôlés complètement et efficacement.

RÉDUCTION DES DÉFAUTS DE PRESSION – Le SPEA 3030M a été développé pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être détectées par les testeurs ICT conventionnels.

Quad Core für parallele Tests

Le SPEA 3030 multimode peut être équipé de jusqu’à 4 cœurs, chacun d’entre eux disposant d’une unité centrale indépendante, d’une mémoire locale et d’une instrumentation. Il est ainsi possible de contrôler jusqu’à 4 sous-ensembles en parallèle. Cela permet de réduire les coûts de test jusqu’à 75% par rapport aux testeurs ICT standard. Vous n’avez besoin que d’un testeur, d’une procédure de manipulation, d’un adaptateur et d’un PC pour tester quatre ensembles simultanément.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030 multimode peut être équipé d’un ou de plusieurs modules de flashage. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur

La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de chaque test. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Les instruments de mesure d’autres fabricants peuvent également être intégrés sans problème.
Les nombreuses possibilités d’adaptation, telles que les récepteurs à tiroir ou les interfaces enfichables, sont remarquables. Unité de contact en ligne, interface Pylon mais aussi interfaces spécifiques au client ou récepteurs de fournisseurs tiers (Genrad, Ingun, Zentel, etc.)

Un contact précis avec les récepteurs de SPEA

Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

Réduction des retours sur le terrain

Réduction des retours sur le terrain – Le SPEA 3030 multimode a été conçu pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 multimode détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être identifiées par les testeurs ICT conventionnels.

Performance du test

• Balayage des limites
  Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technique boundary-scan et des modules système du SPEA 3030 multimode permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).
• Détection des broches ouvertes
  Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan.
• Test fonctionnel
  Le SPEA 3030 Multimode permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc.
• Architecture True-Per-Pin
  La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale.
• ICT paramétrique à vitesse maximale
  L’ICT paramétrique dynamique à haute vitesse du SPEA 3030 Inline vérifie les paramètres de chaque composant individuel conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.
• Transfert de programmes de test et d’adaptateurs vers d’autres testeurs
  Les testeurs SPEA reposent sur une architecture système commune. La plateforme matérielle et logicielle est conçue de manière à ce que les programmes de test et les adaptateurs puissent être transférés d’un système à l’autre. Pour les programmes de test, cela ne vaut pas seulement au sein de la famille de systèmes SPEA 3030, mais aussi entre les testeurs Board et Flying Probe. Cela permet une flexibilité maximale dans la production.

 

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SPEA 3030 Compact – Faible encombrement, couverture élevée des défauts

Points forts

1. Double test parallèle
2. Faible encombrement
3. ICT paramétrique à haute vitesse
4. Développement automatique d’applications
5. Multiples méthodes de contrôle : ICT, FKT, flashage

Compact. Puissant.

Le SPEA 3030 Compact est conçu pour le test d’incircuits rapide et économique. Avec un faible encombrement, il offre un maximum de possibilités de test. Le testeur est modulaire, configurable selon les besoins du client et, grâce aux tests parallèles dual core, il permet de doubler le débit des testeurs ICT ordinaires avec une couverture des erreurs de 100%.

Tests parallèles

Le SPEA 3030 Compact peut être configuré en tant que système multi-cœur avec jusqu’à 2 cœurs indépendants – chacun avec une unité centrale, une mémoire locale et une instrumentation indépendantes.

Réduire les coûts des tests

Grâce à l’architecture multi-cœur, les coûts de test sont réduits de manière drastique. Il suffit d’un testeur, d’une procédure de manipulation, d’un adaptateur et d’un PC pour tester deux ensembles simultanément.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

Réduction des retours sur le terrain

Réduction des retours sur le terrain – Le SPEA 3030 Compact a été conçu pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 Compact détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être détectées par les testeurs ICT conventionnels.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030 Compact peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Un contact précis avec les récepteurs de SPEA

Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

ICT paramétrique à vitesse maximale

L’ICT paramétrique dynamique à grande vitesse du SPEA 3030 Compact contrôle les paramètres de chaque composant conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.

Performances de test du SPEA 3030 Compact

• Architecture True-Per-Pin
  La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale.
• Détection des broches ouvertes
  Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan.
• Test fonctionnel
  Le SPEA 3030 Compact permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc.
• Configurable selon les besoins du client et pouvant être équipé ultérieurement de manière flexible
  La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de test respectives. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Les instruments de mesure de fabricants tiers peuvent également être intégrés sans problème.
  Les nombreuses possibilités d’adaptation sont exceptionnelles, comme par exemple les récepteurs à tiroir, les interfaces enfichables, les unités de contact en ligne, les interfaces Pylon, mais aussi les interfaces spécifiques aux clients ou les récepteurs de fabricants tiers (Genrad, Ingun, Zentel, etc.).
• Balayage des limites
  Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technologie Boundary Scan et des modules système du SPEA 3030 Compact permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).
  Transfert des programmes de test et des adaptateurs vers d’autres testeurs
  Les testeurs SPEA sont basés sur une architecture système commune. La plateforme matérielle et logicielle est conçue de manière à ce que les programmes de test et les adaptateurs puissent être transférés d’un système à l’autre. Pour les programmes de test, cela ne vaut pas seulement au sein de la famille de systèmes SPEA 3030, mais aussi entre les testeurs Board et Flying Probe. Cela permet une flexibilité maximale dans la production.

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