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SPEA T100L

Sistema di test automatico dei LED

Rilevamento completo dei difetti della luce LED

Il sistema automatico di test LED SPEA T100L rileva in modo affidabile i difetti dei componenti elettronici per le applicazioni di illuminazione a LED. Soddisfa tutti i requisiti della produzione in serie di grandi volumi ed elimina la necessità di costosi adattatori con cavi in fibra ottica.

 

 

Il tester per LED SPEA T100L offre prestazioni eccezionali nei test sui LED, eliminando la necessità di effettuare test funzionali manuali e rispettando i tempi dei cicli di produzione. La tecnologia flying scanner integrata acquisisce ed elabora in parallelo i parametri di intensità e colore di ciascun pixel luminoso del LED, consentendo di acquisire più caratteristiche del LED in un unico passaggio.


Il collaudo dei LED in combinazione con gruppi elettronici è un processo complesso con requisiti elevati.

La sfida del collaudo risiede nella variabilità dell’intensità luminosa e della temperatura di colore, nel collaudo parallelo dell’assemblaggio e nel controllo simultaneo della corretta posizione dei singoli LED: un’area in cui l’automazione efficiente del processo di collaudo garantisce un’elevata redditività.

Il tester per LED SPEA T100L è l’ultimo sistema della serie di teste volanti SPEA. Il tester si basa su una tecnologia di collaudo comprovata e offre le massime prestazioni: un investimento che vale la pena di fare.


Maggiore qualità del prodotto grazie a tecniche di test aggiuntive

L’esecuzione di test aggiuntivi sui componenti elettronici lungo la catena funzionale degli apparecchi di illuminazione a LED garantisce il filtraggio dei prodotti difettosi.
I sistemi di test SPEA offrono una copertura di test completa senza aumentare la complessità dell’ambiente di produzione.


SPEA T100L Documentazione PDF

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SPEA T300

Tester in-circuit con massimo parallelismo

Test parallelo a 32 volte

Il tester per schede SPEA T300 ha un’architettura unica, con fino a 32 core di test incircuit paralleli e una capacità aggiuntiva di 256 core per i test di flashing e funzionali. L’architettura parallela asincrona dello SPEA T300 consente di testare e di eseguire il flashing in parallelo di un massimo di 32 PCBA (Printed Circuit Board Assembly).

Il tester ad aghi SPEA T300 offre l’esclusiva tecnologia ICT-Plus di SPEA, che individua i guasti elettronici non rilevati dai test ICT convenzionali.

Test e flash di una serie di gruppi in parallelo

Molti assemblaggi sono prodotti in pannelli, cioè alcuni o un gran numero di assemblaggi sono collegati in un pannello per formare un grande PCB. Ognuno di questi singoli gruppi contiene a sua volta da pochi a innumerevoli componenti e parti che devono essere testati e programmati.

Il nuovo tester per schede T300 di SPEA è stato sviluppato appositamente per i test dell’utente o per testare e programmare molte schede contemporaneamente. Garantisce quindi la massima produttività e i più bassi costi di test e programmazione.

 

 

Programmabile come stazione di test singola o doppia

Lo SPEA T300 può essere programmato come stazione di test singola o doppia.

In modalità Single Test Site, una singola scheda può essere sottoposta a TIC e a test di funzionamento e flashing.

Il doppio lato di prova consente di testare due schede contemporaneamente. Questo vale per l’ICT, la programmazione flash e il test funzionale. Per raddoppiare il rendimento, il tester può eseguire uno split test. Alla stazione 1, ad esempio, viene eseguito un TIC, mentre alla stazione 2 viene eseguito contemporaneamente un lampeggio o un test di funzionamento.

Test senza operatore

Lo SPEA T300 può essere configurato in diverse modalità operative automatizzate che funzionano senza operatore

  • Carico in linea – Scarico in linea
  • Caricamento da scaffale – scarico in linea [1]
  • Carico in linea – scarico in rack [1] [2]
  • Carico dal rack – Scarico nel rack [1] [2]

[1] Opzione: caricamento della scaffalatura tramite robot
[2] Opzione: Passare – Non passare – Ordinare

Tester in-circuit – connessi all’ecosistema digitale

Lo SPEA T300 è in scambio con l’ambiente Industrie 4.0 e l’ecosistema digitale – in termini di informazioni, notifiche, comandi di programmazione e istruzioni della macchina.

Il tester è dotato di sensori per rilevare e osservare l’ambiente, le parti soggette a usura e quelle in movimento, le alimentazioni elettriche e pneumatiche e l’alimentazione interna ed esterna. Questo lo autorizza a:

  • Supporto per la manutenzione predittiva
  • Rilevamento anticipato degli errori che potrebbero causare malfunzionamenti
  • Stima dell’usura e della vita utile residua delle parti della macchina

Lo SPEA T300 è progettato per un uso continuo e intensivo anche in ambienti di produzione difficili. Facilità di manutenzione: la manutenzione può essere effettuata in modo semplice e rapido.

ATOS Leonardo 4 ICT è la versione T300 del software di sistema ATOS che SPEA ha sviluppato per i suoi tester.

ATOS contiene tutte le funzioni operative e di programmazione necessarie per il tester. In questo modo si è indipendenti dalla versione di Windows® e dalla configurazione e dalle prestazioni del PC di sistema.

 

 

 

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Gestione automatizzata delle schede SPEA

SPEA Board Handling

Minimo ingombro, massima efficacia

Completamente compatibile con tutti i tester SPEA con capacità in linea

Il sistema per la movimentazione automatizzata delle schede, sviluppato e prodotto da SPEA, consente il caricamento automatico di assiemi e componenti dal rack al tester e dal tester al rack.

I moduli di manipolazione sono pienamente compatibili con tutti i sistemi di test SPEA in linea, sia quelli esistenti che quelli nuovi. L’uso di moduli SPEA garantisce l’assoluta compatibilità tra manipolazione e tester, e quindi una produzione affidabile. Il nostro servizio clienti vi offre un’assistenza professionale durante l’installazione e oltre.

Apparecchiature di movimentazione modulari con un ingombro ridotto

Il sistema di movimentazione automatica dei pannelli di SPEA è caratterizzato da un’architettura compatta e modulare e offre quindi un sistema economico con un ingombro ridotto.

L’architettura modulare consente di configurare il sistema di movimentazione in modo personalizzato. I moduli possono essere aggiunti, scambiati o spostati all’interno della stessa o di altre celle di prova per modificare il percorso di trasporto (pass-back, pass-through o misto). Ciò significa che siete equipaggiati in modo ottimale per ogni esigenza di produzione attuale o futura.

Tutti i moduli del sistema di movimentazione SPEA richiedono solo 1/3 della superficie dei segmenti di movimentazione convenzionali. Il modulo più piccolo ha un ingombro di soli 0,7 metri quadrati. Una tipica configurazione passante occupa solo 1,31 metri quadrati di spazio, rispetto ai 3,38 metri quadrati delle soluzioni di automazione tradizionali.

Il posizionamento degli scaffali può essere effettuato manualmente o automaticamente in vari modi, ad esempio con AGV, robot, nastri trasportatori o buffer di magazzino locali. L’altezza di posizionamento del rack è programmabile per semplificare le procedure operative o per impostare l’altezza corretta per il funzionamento con robot o AGV.

Progettato per il futuro dei test

La gestione dell’assemblaggio è completamente controllata dal software del tester SPEA. La comunicazione tra il tester e la LAN tramite l’interfaccia Ethernet TCP/IP sfrutta i vantaggi dell’Industria 4.0: i dati di produzione e dei sensori possono essere trasferiti a sistemi di big data per la manutenzione predittiva.

Il sistema di movimentazione SPEA è costituito da moduli durevoli e privi di manutenzione per garantire l’affidabilità operativa per un lungo periodo di tempo. I sensori utilizzati, in combinazione con il software impiegato, assicurano che tutte le fasi vengano eseguite in modo completamente controllato.

Piena integrazione con il tester e il software SPEA

L’installazione dei moduli di manipolazione SPEA è professionale e semplice: è sufficiente collegarli all’alimentazione e alle interfacce di comunicazione del tester (SMEM, Hermes, TCP/IP) – tutto qui! Il software del tester contiene tutti i driver necessari per il controllo della movimentazione automatica.

La modalità operativa desiderata del sistema di movimentazione (ad esempio, pass-through o pass-back) può essere selezionata direttamente nel programma di test, in modo da non richiedere ulteriori sforzi operativi quando si cambia prodotto.

L’ordinamento degli assiemi può anche essere definito direttamente nel programma di prova. Ad esempio, con lo smistamento pass-fail nella stessa rivista, in riviste separate o in slot di riviste assegnate in modo permanente.

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SPEA 4080X Flying Probe Tester

Test dell’elettronica di potenza
Il primo tester che esegue un test incircuito su gruppi elettronici di potenza

Test automatico di grandi
e schede complesse

L’SPEA 4080X è progettato per il collaudo senza adattatore di gruppi elettronici di potenza, tra cui inverter, alimentatori, alimentatori e gruppi ad alta densità.

Il tester trasporta facilmente e automaticamente gruppi grandi e pesanti (15 kg e oltre) e li testa in modo ultraveloce e con alta precisione: digitale, analogico, elettronica di potenza, supercondensatori, test ad alta tensione o di relè, test di polarità e naturalmente elementi meccanici come magneti, LED, display, ecc.

Inoltre, il sistema offre tecniche aggiuntive come il test ottico, la calibrazione del flashing o dell’RTC, ecc.

Vantaggi

Il test delle schede di potenza con lo SPEA 4080X offre grandi vantaggi:
La percentuale di guasti durante il test di funzionamento finale (test di fine linea) è quasi nulla.
Una diagnosi affidabile e precisa a livello di componenti riduce significativamente i costi di riparazione. La ricerca della causa dell’errore, lunga e dispendiosa, non è più necessaria.
Il rilevamento tempestivo dei guasti garantisce l’ottimizzazione dei flussi di lavoro e dei processi
Le apparecchiature di prova per i test funzionali e di fine linea possono essere semplificate, riducendo così il tempo complessivo di prova.

Caratteristiche delle prestazioni

Max Altezza del componente: 150 mm

Lo SPEA 4080X è stato progettato per testare in modo semplice e completo gruppi con componenti alti fino a 150 mm.
Nessun altro tester a sonda volante è in grado di testare schede con componenti di questa altezza e di aumentare la profondità del test, poiché riesce a entrare in contatto anche dove i tester a letto d’aghi raggiungono il loro limite.

Gestione automatica di pannelli di grandi dimensioni

Funzionamento senza operatore, integrazione diretta nelle linee SMT o nelle celle di prova

Test completi

Nessun guasto durante il test finale di funzionamento/EOL, riduzione dei resi sul campo

Alta produttività

Costi di prova ridotti, integrazione diretta nelle linee SMT o nelle celle di prova

180 contatti/sec

L’esclusiva tecnologia di azionamento con motori lineari ed encoder ottici su tutti gli assi (X, Y e Z) garantisce la massima accelerazione e un contatto estremamente preciso. La tecnologia ad anello chiuso garantisce una ripetibilità senza pari su un numero infinito di corse.

Min. Dimensione del pad: 50 µm

L’accuratezza di contatto estremamente precisa è ottenuta mediante encoder ottici lineari su tutti gli assi. Lo SPEA 4080X contatta pad da 50μm alla massima velocità e con assoluta precisione, senza lasciare tracce – unico nel settore delle sonde volanti.
La forza di pressione programmabile e la funzione di atterraggio morbido assicurano che anche i componenti elettronici più sensibili (passo ultra fine, schede appiccicose all’avvio del prodotto, assemblaggi flessibili) vengano contattati con precisione e rapidità senza rischio di danni.

Massima copertura degli errori

Lo SPEA 4080X offre una gamma completa di possibilità di test con la massima precisione di misura. Quanto più breve è la distanza tra l’ago e lo strumento di misura, tanto più rapida e precisa sarà la misurazione. Pertanto, nei sistemi SPEA Flying Probe, gli strumenti di misura e stimolazione sono posizionati come una testa di prova direttamente sugli aghi – il “concetto di tester volante”. Ecco perché i tester SPEA sono i più veloci e i più precisi.

Innovativo telaio in granito

Un innovativo telaio in granito combinato con una tecnologia di motori lineari all’avanguardia offre una precisione di contatto senza precedenti con una velocità di test estremamente rapida a basse vibrazioni e la massima stabilità termica.
Rispetto al ferro o all’acciaio convenzionali, il granito naturale offre le migliori proprietà di smorzamento e stabilità termica, riducendo al minimo gli effetti delle vibrazioni e delle deformazioni che influirebbero sulla precisione e sull’affidabilità nel tempo.

Ingombro compatto: 2,4 m2 (25,83 ft2)

L’ingombro della SPEA 4080X è molto compatto: richiede solo 2,2 m2 , compresa l’alimentazione in linea.

Può sostituire il tester per letti ad aghi

Grazie alla sua velocità e all’elevata produttività che ne consegue, lo SPEA 4080X può essere facilmente utilizzato laddove in precedenza venivano impiegati solo tester a letto d’aghi, ad esempio anche nella produzione in serie di grandi volumi.

Misure di alta precisione

Prestazioni e accuratezza di misura ad alta precisione (0,1pF), integrità del segnale, nessuna degradazione dei risultati di misura o interferenza, acquisizione istantanea del segnale, ripetibilità esclusiva

Fino a 28 strumenti di volo superiori e inferiori

Gli otto assi dello SPEA 4080 (4 superiori + 4 inferiori) consentono di installare fino a 28 strumenti volanti: Oltre alle sonde con cui vengono eseguiti tutti i test elettrici, sono disponibili una serie di altri strumenti per ampliare le prestazioni di prova dello SPEA 4080.

 

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SPEA 3030X In-Circuit Tester

Test dell’elettronica di potenza

 

Test automatico di schede grandi e complesse

L’SPEA 3030X è stato sviluppato per il collaudo senza adattatore di gruppi elettronici di potenza, tra cui inverter, unità di alimentazione, alimentatori e gruppi con un’elevata densità di confezionamento.

Il tester trasporta facilmente e automaticamente assemblaggi grandi e pesanti (10 kg e oltre) e li testa in modo ultraveloce e con alta precisione: digitale, analogico, elettronica di potenza, supercondensatori, test ad alta tensione o di relè, test di polarità e naturalmente elementi meccanici come magneti, LED, display ecc.

Inoltre, il sistema offre tecniche aggiuntive come i test ottici, la calibrazione del flashing o dell’RTC, ecc.

Vantaggi

  • Il test delle schede di potenza con il 3030X offre grandi vantaggi:
  • La percentuale di guasti durante il test di funzionamento finale (test di fine linea) è quasi nulla.
  • Una diagnosi affidabile e precisa a livello di componenti riduce significativamente i costi di riparazione. La ricerca della causa dell’errore, lunga e dispendiosa, non è più necessaria.
  • Il rilevamento tempestivo dei guasti garantisce l’ottimizzazione dei flussi di lavoro e dei processi
  • Le apparecchiature di prova per i test funzionali e di fine linea possono essere semplificate, riducendo così il tempo complessivo di prova.

Highlights

Gestione automatica di pannelli di grandi dimensioni
Funzionamento senza operatore, integrazione diretta nelle linee SMT o nelle celle di prova

Test completi
Nessun guasto durante il test finale di funzionamento/EOL, riduzione dei resi sul campo

Alta produttività
Costi di collaudo ridotti, capacità di rispettare i tempi di esecuzione della linea SMT

Tester multifunzione: copertura del 100% con un solo dispositivo

Dagli analizzatori di difetti di produzione ai sistemi ad alte prestazioni, i tester per schede SPEA offrono una soluzione superiore per i test funzionali parametrici e dinamici a livello di componenti, cluster e schede. Testiamo il 100% di tutti i componenti elettronici, meccanici ed elettromeccanici dell’assemblaggio.

Testperformance

Lo SPEA 3030X offre una gamma completa di tecniche di test e rileva componenti difettosi e anomalie di processo in modo sicuro e affidabile. In questo modo si riduce l’insorgere di guasti o anomalie non riconosciute durante il test di funzionamento e quindi anche il rischio di ritorni sul campo.

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SPEA 3030T Funktions- und End-of-Line-Tester

  • Test funzionali affidabili ed economici
  • Test multifunzionali per una copertura di test unica
  • Elevata configurabilità, completa modularità
  • Design compatto ed ergonomico

Lo SPEA 3030 Tower è un nuovo tester compatto, sviluppato appositamente per eseguire test funzionali completi ed economici su gruppi e moduli elettronici.

Sistemi standard, liberamente configurabili in base ai requisiti di prova. O costruiti su ordinazione, per soddisfare le esigenze speciali dei clienti.

I tester funzionali SPEA sono utilizzati in tutto il mondo per il collaudo funzionale di moduli e sistemi elettronici completamente assemblati.

Moduli elettronici, alimentatori, inverter, PLC, smartphone, centraline per veicoli e centraline per motori sono solo alcuni esempi delle varie applicazioni di questi sistemi SPEA.

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SPEA T100

Calibrazione + test elettrico + test ottico + test meccanico.
Fino a 8 teste di test liberamente spostabili. Tutto in un unico sistema.

 

Highlights

ATE – Sistema di test automatico, completamente programmabile e applicabile a diversi prodotti
Calibrazione, test, ispezione e flashing di micro-ottica, MEMS, tecnologia dei sensori, microelettronica e micromeccanica
Stimolazione elettrica, ottica e meccanica completamente integrata e sincronizzata tramite attuatori liberamente spostabili, fino a 4 sopra e 4 sotto
Strumenti configurabili (in alto e in basso)
Configurato come sistema in linea

Il primissimo tester di optomeccatronica
su base Flying Probe

Il T100 è un sistema di nuova concezione di SPEA per il collaudo e la calibrazione di dispositivi elettronici e assemblaggi di ogni tipo che contengono funzioni elettroniche, ottiche e meccaniche. Ciò avviene utilizzando le più recenti tecnologie dei settori dell’ottica, dei MEMS, dei sensori, della microelettronica e della micromeccanica.
Il T100 può essere equipaggiato con diversi strumenti e attuatori che eseguono calibrazioni, test elettrici, meccanici e ottici.
E tutto questo con un solo sistema: non sono necessari altri sistemi di test.
La nuova SPEA T100 offre la soluzione ottimale e universalmente applicabile per un’ampia varietà di prodotti e per una produzione con molte varianti.

Completamente configurabile

Lo SPEA T100 può essere dotato di un massimo di 4 teste di prova liberamente spostabili (XY), ciascuna sul lato superiore e inferiore, su cui possono essere montati vari attuatori, come ad esempio:

  • Attuatori di pressione per testare, calibrare e misurare tutti gli oggetti sensibili alla pressione (tastiere, pulsanti, display 3D, dispositivi flessibili)
  • Attuatori Z per la movimentazione di strumenti ottici ed elettrici sull’asse Z
  • Modulo laser per il collaudo, la calibrazione e la misurazione di dimensioni meccaniche, deformazioni e planarità
  • Misuratore di esposizione per la calibrazione e la misurazione di un’ampia gamma di sorgenti luminose, come LED, sistemi LIDAR e display.
  • Sorgente luminosa per testare, calibrare e misurare sensori di luce o sensori LIDAR
  • Telecamere per verificare la presenza, l’allineamento, la forma dei componenti e delle parti, le dimensioni dei fori, i graffi o la polvere sulla superficie del prodotto.
  • Modulo sonoro per testare, calibrare e misurare i dispositivi di emissione sonora (buzzer, altoparlante)
  • Avvitatore motorizzato per l’assemblaggio, l’avvitamento e la calibrazione di dispositivi meccanici o elettromeccanici

Testperformance

  • Elettrico: test parametrico, test delle prestazioni, test funzionale, acquisizione di forme d’onda, test RF, test 5G, flashing
  • Dimensionale: test di omogeneità, test di posizione corretta, test di dimensione corretta, test di scansione 3D (forma e profilo).
  • Meccanica: prova di pressione, prova di movimento (prova di corsa), prova di presa (prova di strisciamento)
  • Ottica: controllo dei valori misurati, AOI, test della luce, test laser, riconoscimento dei caratteri, misurazione dei fori, test della superficie, test della pasta saldante
  • Termico: registrazione della temperatura, controllo della temperatura

Il tester può essere configurato come versione in linea. Gli assemblaggi vengono identificati mediante codici a barre 2D o lettori RFID.
Su alcuni modelli di SPEA T100, nell’area di prova inferiore può essere installata una piattaforma mobile, che può essere equipaggiata con attuatori aggiuntivi e altri strumenti di prova.
Lo SPEA T100 utilizza il software di sistema ATOS, che offre la generazione automatica di test e la massima copertura di test.

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SPEA 3030IL In-Circuit Tester

Test parallelo 4 volte, manipolazione ultraveloce manipolazione.
Non è necessario un operatore. Costi di test minimi.

Highlights

  1. throughput 4 volte w con architettura quad-core
  2. Nessun costo per il personale operativo
  3. Movimentazione ultraveloce in 3 secondi
  4. Oltre 5000 test/sec.
  5. Generazione automatica del programma di test
  6. Programmazione parallela di circuiti integrati di diverso tipo

Alto volume. Alta qualità.
Costi di prova ridotti.

La SPEA 3030 Inline è ottimizzata per l’uso in ambienti di produzione automatizzati. Può essere facilmente integrato nelle linee di produzione SMEMA o combinato con i sistemi di carico e scarico automatici standard. Il sistema ha un design modulare e può essere configurato per soddisfare i requisiti specifici del cliente. Oltre al test in-circuit, lo SPEA 3030 Inline esegue anche test digitali e test di gruppi elettronici di potenza.

Quad-core per test paralleli

Lo SPEA 3030 Inline può essere configurato come sistema multi-core con un massimo di 4 core indipendenti, ciascuno con CPU, memoria locale e strumentazione indipendenti. Ciò consente di testare fino a 4 gruppi contemporaneamente. La produttività dello SPEA 3030 Inline è quindi superiore fino al 400%, riducendo al minimo i costi di prova.

Manipolazione ultraveloce

La SPEA 3030 Inline è dotata di un modulo di movimentazione riprogettato che dimezza i tempi di movimentazione rispetto al modello precedente. 3 secondi sono sufficienti per gestire un gruppo di medie dimensioni, compreso il caricamento, la pressione e il rilascio dell’adattatore e lo scarico finale.

L’adattatore e il programma di test sono compatibili con le varianti ad azionamento manuale della famiglia di sistemi.

Lo SPEA 3030 Inline è pienamente compatibile con i sistemi ad azionamento manuale. È possibile passare da un tester in linea a un tester manuale e viceversa. Ciò significa che il debug può essere eseguito su un sistema manuale e che il sistema in linea può continuare a essere utilizzato in produzione.

Massima produttività grazie al multistadio

Utilizzando l’opzione multi-stadio, lo SPEA 3030 Inline può eseguire diverse procedure di test simultaneamente (ad esempio: in-circuito + test di funzionamento, in-circuito + flashing, ecc.) In questo modo si ottimizzano i tempi di prova e si riducono i costi.

Nessun personale operativo

Lo SPEA 3030 Inline non richiede personale operativo. Il sistema funziona in modo completamente automatico nella produzione in linea o con caricatori e scaricatori. Il sistema è controllato tramite SMEMA o HERMES. Questo aumenta la produttività e riduce drasticamente i costi dei test.

Massima velocità di test

Rispetto ai tradizionali tester a letto d’ago, la velocità di test dello SPEA 3030 è significativamente più elevata. Una CPU dedicata in ogni core garantisce una comunicazione senza ritardi tra gli strumenti e il PC. I relè ad alte prestazioni garantiscono tempi di commutazione rapidi. L’architettura del sistema riduce al minimo la configurazione degli strumenti. È anche possibile eseguire diverse misure contemporaneamente con un singolo nucleo.

Contatto controllato con ricevitore motorizzato

L’unità di contatto elettromeccanica è integrata direttamente nel sistema di prova. Ciò significa che non ci sono cavi di disturbo tra i moduli di sistema e l’adattamento e che l’integrità del segnale è garantita. Il sistema di prova e l’adattamento sono stati sviluppati da SPEA come soluzione di prova affidabile ed economica chiavi in mano. Il contatto dell’assemblaggio è sicuro e preciso. La velocità della pressione di contatto del ricevitore può essere impostata in modo specifico per il campione in esame. L’abbassamento è sempre assolutamente planare. Il livello di contatto è liberamente programmabile in passi di 100 µm. Ciò consente di realizzare diversi livelli di contatto, ad esempio per un contatto a due fasi durante il test di funzionamento.

Lampeggio parallelo di più componenti

Lo SPEA 3030 Inline può essere dotato di uno o più moduli lampeggianti. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.

TIC parametrico alla massima velocità

Lo SPEA 3030 Inline può essere dotato di uno o più moduli lampeggianti. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.

Personalizzabile e adattabile in modo flessibile

La flessibilità senza compromessi dei nostri tester garantisce una configurazione personalizzata che soddisfa in modo ottimale i rispettivi requisiti di prova. Potete configurare il vostro tester completamente al momento dell’acquisto o aggiornarlo gradualmente: tutto è possibile. Anche gli strumenti di misura di terze parti possono essere facilmente integrati.

Architettura indipendente dal PC

Con l’architettura indipendente dal PC dello SPEA 3030, il programma di test viene eseguito nella CPU del tester e la velocità del test è determinata da questo. In questo modo si garantisce anche che i programmi in background del PC non influiscano sulla velocità del test. Inoltre, il PC può essere aggiornato o sostituito in qualsiasi momento senza la necessità di eseguire nuovamente il debug dei programmi di test.

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SPEA 3030M In-Circuit Tester

Copertura completa dei guasti
Alta produttività. Elevata scalabilità.

Highlights

  1. I test in parallelo riducono i costi
  2. Multifunzione: copertura completa dei guasti
  3. Personalizzabile e adattabile in modo flessibile
  4. Test dell’elettronica di potenza con i moduli di potenza SPEA
  5. Creazione automatica del programma di test
  6. Programmazione parallela di circuiti integrati di diverso tipo

Opzioni di test multifunzionali:
Copertura al 100% con un solo sistema.

Lo SPEA 3030 Multimode è un sistema di test modulare e multifunzionale che può essere configurato in base alle specifiche del cliente. Offre una copertura completa dei guasti in combinazione con costi di test ridotti al minimo.

RISPARMIO DI SOLDI – Perché acquistare diversi tester quando ne basta uno? Tutti i test possono essere eseguiti con lo SPEA 3030 Inline: Test di circuito, di cluster e di funzionamento, nonché programmazione a bordo e boundary scan. Rispetto a diverse stazioni di prova, i vantaggi sono enormi: nessun personale operativo aggiuntivo, un unico programma di prova, spazio ridotto e costi operativi inferiori.

RISPARMIO DI TEMPO – Riducete drasticamente i tempi di verifica con lo SPEA 3030 Inline.
L’architettura di sistema specifica per SPEA, con processori speciali, consente di eseguire diverse sequenze di test. Non sono più necessarie ridondanze, manipolazioni lunghe e test di gruppi in diverse stazioni di prova. I gruppi passano una volta attraverso lo SPEA 3030 Inline e vengono testati in modo completo ed efficiente.

RIDUZIONE DEI PRESSORI DI CAMPO – Lo SPEA 3030 è stato sviluppato per aiutare i produttori di elettronica a garantire la qualità dei loro prodotti. Utilizzando tecniche di test innovative, lo SPEA 3030 rileva in modo affidabile i guasti che non possono essere riconosciuti dai tester ICT tradizionali.

Quad-core per test paralleli

Lo SPEA 3030 Multimode può essere dotato di un massimo di 4 core, ciascuno con CPU, memoria locale e strumentazione indipendenti. Ciò consente di testare fino a 4 gruppi in parallelo. Questo riduce i costi di collaudo fino al 75% rispetto ai tester ICT standard. Per testare quattro gruppi simultaneamente sono sufficienti un tester, una procedura di manipolazione, un adattatore e un PC.

Lampeggio parallelo di più componenti

Lo SPEA 3030 Multimode può essere dotato di uno o più moduli di lampeggiamento. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.

Architettura indipendente dal PC

Con l’architettura indipendente dal PC dello SPEA 3030, il programma di test viene eseguito nella CPU del tester e la velocità del test è determinata da questo. In questo modo si garantisce anche che i programmi in background del PC non influiscano sulla velocità del test. Inoltre, il PC può essere aggiornato o sostituito in qualsiasi momento senza la necessità di eseguire nuovamente il debug dei programmi di test.

Personalizzabile e adattabile in modo flessibile

La flessibilità senza compromessi dei nostri tester garantisce una configurazione personalizzata che soddisfa in modo ottimale i rispettivi requisiti di prova. Potete configurare il vostro tester completamente al momento dell’acquisto o aggiornarlo gradualmente: tutto è possibile. Anche gli strumenti di misura di terze parti possono essere facilmente integrati.
L’ampia gamma di opzioni di adattamento, come i ricevitori a cassetto e le interfacce a spina, è eccezionale. Unità di contatto in linea, interfaccia Pylon ma anche interfacce personalizzate o ricevitori di fornitori terzi (Genrad, Ingun, Zentel, ecc.).

Contatto preciso con i ricevitori SPEA

Le unità di contatto sono integrate direttamente nel sistema di test. Ciò significa che non ci sono cavi di disturbo tra i moduli di sistema e l’adattamento. L’integrità del segnale è garantita. Il sistema di test e l’adattamento sono forniti da SPEA come soluzione di test affidabile e conveniente “chiavi in mano”.
Il contatto dell’assemblaggio è sicuro e preciso. Con il ricevitore elettromeccanico del cassetto SPEA, la velocità della pressione di contatto può essere impostata in modo specifico per il provino.
L’abbassamento è sempre assolutamente planare. Il livello di contatto è liberamente programmabile in passi di 100 µm. Ciò consente di realizzare diversi livelli di contatto, ad esempio per un contatto a due fasi durante il test di funzionamento.

Riduzione dei ritorni di campo

Riduzione dei ritorni di campo – Lo SPEA 3030 Multimode è stato sviluppato per aiutare i produttori di elettronica a garantire la qualità dei loro prodotti. Grazie all’utilizzo di tecniche di test innovative, lo SPEA 3030 Multimode rileva in modo affidabile i guasti che non possono essere riconosciuti dai tester ICT tradizionali.

Testperformance

  • Scansione dei confini
    La scansione perimetrale viene utilizzata quando non è possibile accedere fisicamente alle singole parti del circuito. Ciò significa che assemblaggi molto complessi, tecnologia a passo fine, multistrati e BGA possono essere testati senza contatto diretto con le sonde. L’uso parallelo della tecnologia boundary scan e dei moduli di sistema dello SPEA 3030 Multimode consente una più ampia copertura dei guasti, riducendo al contempo i costi di adattamento (punti di test virtuali invece di aghi di test reali).
  • Rilevamento del pin aperto
    Sono disponibili due diverse tecniche di test per identificare chiaramente i pin non saldati (pin aperti) e altri difetti di processo: Electro Scan e Junction Scan.
  • Test di funzionamento
    Lo SPEA 3030 Multimode non solo offre test funzionali a livello di componenti, ma anche a livello di cluster e schede. La parametrizzazione viene eseguita nel software di sistema Leonardo o, a scelta, utilizzando linguaggi di programmazione superiori come Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, ecc.
  • Architettura True-Per-Pin
    L’elettronica a pin diretto di SPEA garantisce il collaudo affidabile di complessi gruppi analogici o digitali. Quando non è multiplexata, l’elettronica dei pin fornisce uno stimolo e un canale di misura completamente indipendenti su ciascun canale (1:1). Questo offre diversi vantaggi: generazione più rapida dei test, gestione semplice dell’ECO, piena flessibilità.
  • TIC parametrico alla massima velocità
    L’ICT parametrico-dinamico ad alta velocità dello SPEA 3030 Inline controlla i parametri di ogni singolo componente in base alla scheda tecnica. Questi test vengono generati automaticamente con l’aiuto delle librerie di componenti. Ciò significa tempi brevi di creazione del programma, tempi brevi di test e tassi massimi di copertura degli errori.
  • Trasferimento di programmi di test e adattatori ad altri tester
    I tester SPEA si basano su un’architettura di sistema comune. La piattaforma hardware e software è progettata in modo da poter trasferire i programmi di test e gli adattatori da un sistema all’altro. Nei programmi di test, questo vale non solo all’interno della famiglia di sistemi SPEA 3030, ma anche tra i tester a scheda e quelli a sonda volante. Ciò consente la massima flessibilità di produzione.

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SPEA 3030CE In-Circuit Tester

Alta produttività. Elevata copertura degli errori.
Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline.

Highlights

  1. Test parallelo 2 volte
  2. Kontaktblock kompatibel mit SPEA 3030 Inline
  3. TIC parametrico ad alta velocità
  4. Sviluppo automatico di applicazioni
  5. Diversi metodi di test

Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline

SPEA 3030 Compact extended è un tester a letto d’aghi economico con gestione manuale, compatibile con SPEA 3030 Inline. L’adattatore, l’unità di pressione e il programma di test possono essere trasferiti in modo rapido e semplice dallo SPEA 3030 CE al tester in linea e viceversa. Il tester ha un design modulare, può essere personalizzato e, grazie ai test paralleli dual-core, consente di raddoppiare la produttività. Offre un’ampia gamma di procedure e opzioni di test e una copertura del 100% dei guasti.

Test in parallelo

Lo SPEA 3030 Compact extended può essere dotato di un massimo di 2 core, ciascuno con CPU indipendente, memoria locale e strumentazione. Ciò consente di testare fino a 2 gruppi in parallelo.

Trasferimento di adattatori e programmi di test allo SPEA 3030 Inline

L’unità di contatto e pressione e il programma di test sono completamente compatibili con lo SPEA 3030 Inline. È possibile passare rapidamente e facilmente da un sistema con funzionamento manuale a un sistema completamente automatico e viceversa, a seconda delle esigenze di produzione.

Architettura indipendente dal PC

Con l’architettura indipendente dal PC dello SPEA 3030, il programma di test viene eseguito nella CPU del tester e la velocità del test è determinata da questo. In questo modo si garantisce anche che i programmi in background del PC non influiscano sulla velocità del test. Inoltre, il PC può essere aggiornato o sostituito in qualsiasi momento senza la necessità di eseguire nuovamente il debug dei programmi di test.

Lampeggio parallelo di più componenti

Lo SPEA 3030CE può essere dotato di uno o più moduli lampeggianti. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.

Contatto preciso con i ricevitori SPEA

Le unità di contatto sono integrate direttamente nel sistema di test. Ciò significa che non ci sono cavi di disturbo tra i moduli di sistema e l’adattamento. L’integrità del segnale è garantita. Il sistema di test e l’adattamento sono forniti da SPEA come soluzione di test affidabile e conveniente “chiavi in mano”.
Il contatto dell’assemblaggio è sicuro e preciso. Con il ricevitore elettromeccanico del cassetto SPEA, la velocità della pressione di contatto può essere impostata in modo specifico per il provino.
L’abbassamento è sempre assolutamente planare. Il livello di contatto è liberamente programmabile in passi di 100 µm. Ciò consente di realizzare diversi livelli di contatto, ad esempio per un contatto a due fasi durante il test di funzionamento.

TIC parametrico alla massima velocità

L’ICT parametrico-dinamico ad alta velocità dello SPEA 3030 Inline controlla i parametri di ogni singolo componente in base alla scheda tecnica. Questi test vengono generati automaticamente con l’aiuto delle librerie di componenti. Ciò significa tempi brevi di creazione del programma, tempi brevi di test e tassi massimi di copertura degli errori.

Testperformance

  • Architettura True-Per-Pin
    L’elettronica a pin diretto di SPEA garantisce il collaudo affidabile di complessi gruppi analogici o digitali. Quando non è multiplexata, l’elettronica dei pin fornisce uno stimolo e un canale di misura completamente indipendenti su ciascun canale (1:1). Questo offre diversi vantaggi: generazione più rapida dei test, gestione semplice dell’ECO, piena flessibilità.
  • Rilevamento del pin aperto
    Sono disponibili due diverse tecniche di test per identificare chiaramente i pin non saldati (pin aperti) e altri difetti di processo: Electro Scan e Junction Scan.
  • Test di funzionamento
    Lo SPEA 3030CE non offre solo test funzionali a livello di componenti, ma anche di cluster e schede. La parametrizzazione viene eseguita nel software di sistema Leonardo o, a scelta, utilizzando linguaggi di programmazione superiori come Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, ecc.
  • Personalizzabile e adattabile in modo flessibile
    La flessibilità senza compromessi dei nostri tester garantisce una configurazione personalizzata che soddisfa in modo ottimale i rispettivi requisiti di prova. È possibile configurare completamente il tester nella sezione
    Acquistare o aggiornare successivamente: tutto è possibile. Anche gli strumenti di misura di terze parti possono essere facilmente integrati. L’ampia gamma di opzioni di adattamento, come i ricevitori a cassetto e le interfacce a spina, è eccezionale. Unità di contatto in linea, interfaccia Pylon ma anche interfacce personalizzate o ricevitori di fornitori terzi (Genrad, Ingun, Zentel, ecc.).
  • Scansione dei confini
    La scansione perimetrale viene utilizzata quando non è possibile accedere fisicamente alle singole parti del circuito. Ciò significa che assemblaggi molto complessi, tecnologia a passo fine, multistrati e BGA possono essere testati senza contatto diretto con le sonde. L’uso parallelo della tecnologia boundary scan e dei moduli di sistema dello SPEA 3030 Compact Extended consente una più ampia copertura dei guasti, riducendo al contempo i costi di adattamento (punti di test virtuali anziché aghi di test reali).

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