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Bed of Nail Testers

Nella produzione di circuiti stampati ad alto volume, la capacità di individuare i difetti già nelle prime fasi del processo di produzione è fondamentale per garantire qualità, efficienza e ottimizzazione dei costi. È proprio qui che entra in gioco il tester a letto di chiodi, un metodo di prova collaudato che utilizza una serie di aghi di contatto a molla (“pogo pin”) per interrogare direttamente centinaia o addirittura migliaia di punti di prova di un circuito stampato assemblato contemporaneamente.
Questo tester offre un’eccellente copertura di test e velocità, in particolare nella produzione in serie con design costante. Durante la pressione, la scheda viene abbassata sugli aghi di contatto, viene garantita una forza di contatto definita e quindi, in un ciclo di prova compatto, vengono eseguite numerose misurazioni elettriche, dai cortocircuiti alle resistenze dei conduttori fino ai valori dei componenti.
Con il Bed of Nail Tester di Neutec Electronic AG potete contare su una tecnologia che consente sia la massima profondità di test che elevate velocità di produzione. Ideale per linee di assemblaggio con design consolidati, in cui è giustificato l’investimento in un dispositivo di collaudo personalizzato. La nostra soluzione vi aiuta a escludere tempestivamente gli errori, a ridurre gli scarti e ad evitare rilavorazioni, ancora prima che i vostri moduli raggiungano l’assemblaggio finale o la spedizione.
Vi consigliamo nella scelta del dispositivo più adatto: dall’analisi del layout all’integrazione nella vostra linea di produzione, fino alla registrazione sicura dei risultati dei test. Particolare attenzione viene dedicata a temi quali il Design for Testability (DFT): i punti di test devono essere progettati in modo adeguato, deve essere previsto spazio sufficiente per i pogo pin e le sollecitazioni meccaniche del modulo devono essere ridotte al minimo.
I vantaggi della nostra soluzione Bed-of-Nails:

  • Massima copertura di prova grazie al contatto simultaneo di numerosi punti di misurazione.
  • Alta velocità: controllo parallelo anziché sequenziale.
  • Stabilità e riproducibilità: ideale per linee di produzione con un numero definito di pezzi e un layout costante.
  • Integration & Dokumentation – unsere Systeme liefern Daten für Prozess­optimierung, Rück­verfolgbarkeit und Qualitätssicherung.
    Natürlich bringt der Bed-of-Nails-Ansatz auch Anforderungen mit sich: Ein individuell entwickeltes Prüf­fixture erfordert Planung und Investition und ist weniger flexibel bei häufigen Design­änderungen. Tuttavia, se il vostro volume di produzione lo giustifica, questa tecnologia è una chiave efficace per ridurre i costi e aumentare la qualità.

Affidatevi all’esperienza di Neutec Electronic AG: vi accompagneremo dall’analisi delle vostre esigenze allo sviluppo dei dispositivi fino alla messa in funzione, fornendovi una soluzione che porterà la vostra produzione elettronica a un livello superiore.

↓ Tutti i sistemi di prova Bed-of-Nail ↓

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SPEA T300

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/10/T300.png 545 710 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 11:21:582025-11-19 10:18:02SPEA T300
SPEA 3030 inline
a_Blog SPEA, In-Circuit Tester

SPEA 3030IL In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/3030IL.jpg 544 709 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 11:33:022025-11-19 09:59:09SPEA 3030IL In-Circuit Tester
SPEA 3030M
a_Blog SPEA, In-Circuit Tester

SPEA 3030M In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/SPEA-3030M-21.jpg 544 709 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 11:38:232025-11-19 10:00:50SPEA 3030M In-Circuit Tester
SPEA 3030CE
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SPEA 3030CE In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/3030CE.jpg 545 710 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 15:06:262025-11-19 10:03:11SPEA 3030CE In-Circuit Tester
SPEA 3030 Compatto
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SPEA 3030C In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/3030C.jpg 544 709 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 15:10:572025-11-19 10:04:41SPEA 3030C In-Circuit Tester
SPEA 3030R
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SPEA 3030R In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/3030R.jpg 544 709 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 15:13:512025-11-19 10:07:46SPEA 3030R In-Circuit Tester
SPEA 3030BT
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SPEA 3030BT In-Circuit Tester

https://neutec.ch/wp-content/uploads/2021/02/3030BT.jpg 544 709 Dominic Stadler https://neutec.ch/wp-content/uploads/2023/08/2.png Dominic Stadler2024-01-03 15:16:302025-11-19 10:10:05SPEA 3030BT In-Circuit Tester

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