SPEA T100L – Système de test automatique pour LED

Détection complète des défauts d’éclairage LED

Le système de test T100L détecte de manière fiable les défauts des composants électroniques destinés aux applications d’éclairage LED. Il répond à toutes les exigences de la production en série à grand volume et rend superflus les adaptateurs coûteux équipés de fibres optiques.

 

 

Le testeur LED offre des performances exceptionnelles lors du contrôle des LED, rend superflus les tests de fonctionnement manuels et respecte les cadences de production. La technologie Flying Scanner intégrée enregistre et traite en parallèle les paramètres d’intensité et de couleur de chaque pixel lumineux LED, de sorte que plusieurs caractéristiques LED sont enregistrées en un seul passage.

 

Le test des LED en combinaison avec des modules électroniques est un processus complexe soumis à des exigences élevées.

Le défi de ce test réside dans la variabilité de l’intensité lumineuse et de la température de couleur, le test parallèle de l’ensemble tout en vérifiant la position correcte de chaque LED – un domaine dans lequel une automatisation efficace du processus de test garantit une rentabilité élevée.

Le testeur T100L est le tout dernier système de la série Flying Head de SPEA. Basé sur une technologie de test éprouvée, il offre des performances maximales et constitue un investissement rentable.


Une qualité de produit supérieure grâce à des techniques de contrôle supplémentaires dans le système de test SPEA T100L

La réalisation de tests supplémentaires sur les composants électroniques tout au long de la chaîne fonctionnelle des luminaires LED permet d’éliminer les produits défectueux.
Les systèmes de test SPEA offrent une couverture complète des tests sans augmenter la complexité de l’environnement de production.


Documentation SPEA T100L PDF

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Testeur en circuit SPEA T300 avec parallélisme maximal


32 fois le test parallèle

Le testeur de cartes SPEA T300 possède une architecture de test unique en son genre, avec jusqu’à 32 cœurs de test incircuit parallèles et une capacité supplémentaire de 256 cœurs pour le flashing et les tests fonctionnels. Grâce à l’architecture parallèle asynchrone du SPEA T300, il est possible de tester et de flasher en parallèle jusqu’à 32 PCBA (Printed Circuit Board Assembly).

Le testeur de lit d’aiguilles SPEA T300 offre la technique unique ICT-Plus de SPEA, qui permet de trouver des défauts électroniques qui ne sont pas détectés par les tests ICT traditionnels.

Testez et flashez un grand nombre de modules en parallèle

De nombreux modules sont fabriqués dans le sens de la largeur, c’est-à-dire que peu ou beaucoup de modules sont assemblés dans le sens de la largeur pour former un grand circuit imprimé. Chacun de ces sous-ensembles individuels contient à son tour de quelques à d’innombrables composants et éléments qui doivent être contrôlés et programmés.

Le nouveau testeur de carte T300 de SPEA a été spécialement conçu pour les tests d’utilisation ou pour les tests et la programmation de nombreux modules en même temps. Il garantit ainsi un débit maximal et des coûts de test et de programmation minimaux.

 

 

Programmable comme station de test simple ou double

Le SPEA T300 peut être programmé comme station de test simple ou double.

Le mode Single Test Site permet de tester et de flasher une seule carte ICT et fonctionnelle.

Dual Test Side permet de tester deux platines en même temps. Cela vaut pour les TIC, la programmation flash et les tests fonctionnels. Pour doubler le débit, le testeur peut effectuer un split test. Par exemple, un ICT est effectué à la station 1 tandis qu’à la station 2, soit on flashe, soit on effectue un test de fonctionnement.

Test sans opérateur

Le SPEA T300 peut être configuré en plusieurs modes de fonctionnement automatisés qui fonctionnent sans opérateur

  • Chargement en ligne – Déchargement en ligne
  • Chargement à partir d’un rack – Déchargement en ligne [1]
  • Chargement en ligne – Déchargement en rack [1] [2]
  • Chargement depuis le rack – déchargement dans le rack [1] [2]

[1] Option : chargement du rack par robot
[2] Option : tri réussite/échec

Testeur in-circuit – connecté à l’écosystème numérique

Le SPEA T300 échange avec l’environnement industriel 4.0 et l’écosystème numérique – en termes d’informations, de notifications, d’ordres de programmation et d’instructions machine.

Le testeur possède des capteurs pour détecter et observer l’environnement, les pièces d’usure et les pièces mobiles, les alimentations électriques et pneumatiques et l’alimentation électrique interne et externe. Cela lui permet de

  • Soutien à la maintenance prédictive
  • détection en amont des erreurs qui entraîneraient des dysfonctionnements
  • Estimation de l’usure et de la durée de vie restante des pièces de machines

Le SPEA T300 a été développé pour une utilisation durable et intensive, même dans des environnements de production difficiles. Facilité d’entretien – l’entretien peut être effectué facilement et rapidement.

ATOS Leonardo 4 ICT est la version T300 du logiciel système ATOS que SPEA a développé pour ses testeurs.

ATOS comprend toutes les fonctions de commande et de programmation dont on a besoin pour le testeur. On est ainsi indépendant de la version de Windows® ainsi que de la configuration et des performances du PC système.

 

 

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Manipulation des cartes SPEA

SPEA Board Handling – Encombrement réduit, efficacité maximale

Avec le système de manutention des cartes de SPEA, vous bénéficiez d’une solution ultramoderne qui allie efficacité et précision dans un espace réduit. Le transport entièrement automatisé des cartes de circuits imprimés entre le rack et le testeur minimise les interventions manuelles, réduit les temps de traitement et augmente considérablement la productivité de votre production. Le système séduit par sa manipulation fiable des modules, ses temps de cycle courts et son utilisation optimale de l’espace de production disponible – idéal pour les environnements de test modernes et automatisés.

Entièrement compatible : la manipulation automatisée des cartes avec tous les testeurs SPEA compatibles en ligne

Le système de manutention automatisée des cartes, développé et produit par SPEA, permet le chargement automatique des assemblages et des composants du rack vers le testeur et du testeur vers le rack.

Les modules de manipulation sont entièrement compatibles avec tous les systèmes de test SPEA compatibles en ligne, qu’il s’agisse de systèmes déjà existants ou de nouveaux systèmes. L’utilisation des modules SPEA garantit une compatibilité absolue entre la manipulation et le testeur, et donc une production fiable. Notre service clientèle vous offre un soutien professionnel lors de l’installation et au-delà.

Équipement de manutention modulaire avec un faible encombrement au sol

Le système automatisé de manipulation de cartes de SPEA se caractérise par une architecture compacte et modulaire, ce qui en fait un système peu coûteux et peu encombrant.

L’architecture modulaire vous permet de configurer votre système de manutention sur mesure. Les modules peuvent être ajoutés, échangés ou déplacés au sein de la même cellule de test ou dans d’autres cellules de test afin de modifier le chemin de transport (pass-back, pass-through ou mixte). Vous êtes ainsi parfaitement équipé pour répondre à toutes les exigences de la production actuelle ou future.

Tous les modules du système de manutention SPEA ne nécessitent qu’un tiers de la surface au sol des segments de manutention traditionnels. Le plus petit module a une surface au sol de seulement 0,7 m². Une configuration pass-through typique n’occupe que 1,31 m², contre 3,38 m² pour les solutions d’automatisation traditionnelles.

Le positionnement des racks peut être effectué manuellement ou de manière automatisée de différentes manières, par exemple avec des FTF, des robots, une bande transporteuse ou des tampons de magasin locaux. La hauteur de positionnement du rack est programmable afin de simplifier les opérations ou de régler la hauteur correcte pour la manipulation avec des robots ou des AGV.

SPEA Board Handling – Conçu pour l’avenir des tests

La manipulation du module est entièrement contrôlée par le logiciel du testeur SPEA. La communication entre le testeur et le réseau local via l’interface Ethernet TCP/IP exploite les avantages de l’industrie 4.0 : les données de production et de capteurs peuvent être transmises à des systèmes de big data pour une maintenance prédictive.

Le système de manutention SPEA est composé de modules durables ne nécessitant pas d’entretien, afin de garantir la sécurité de fonctionnement sur le long terme. Les capteurs utilisés, combinés au logiciel utilisé, garantissent que toutes les étapes sont entièrement contrôlées.

Intégration complète avec le testeur et le logiciel SPEA

L’installation des modules de manipulation SPEA est professionnelle et simple : il suffit de les connecter au réseau électrique et aux interfaces de communication du testeur (SMEM, Hermes, TCP/IP) et le tour est joué ! Le logiciel de test contient tous les pilotes nécessaires pour contrôler la manipulation automatisée.

Le mode de fonctionnement souhaité du système de manutention (par exemple Pass-Through ou Pass-Back) peut être sélectionné directement dans le programme de test, ce qui évite toute manipulation supplémentaire en cas de changement de produit.

De plus, le tri des ensembles peut également être défini directement dans le programme de test. Par exemple, avec le tri Pass-Fail dans le même magasin, dans des magasins séparés ou dans des emplacements de magasin attribués de manière fixe.

 

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SPEA 4080X Flying Probe Tester

Test de l’électronique de puissance
Le premier testeur à effectuer un test en circuit sur des modules électroniques de puissance

Test automatique de cartes
grandes et complexes

Le SPEA 4080X a été développé pour le test sans adaptateur de modules d’électronique de puissance – y compris les onduleurs, les blocs d’alimentation, les alimentations et les modules à haute densité.

Le testeur transporte facilement et automatiquement des modules grands et lourds (15 kg et plus) et les teste ultra rapidement et avec une grande précision – numérique, analogique, électronique de puissance, supercondensateurs, tests sous haute tension ou de relais ainsi que des tests de polarité et bien sûr des éléments mécaniques tels que des aimants, des LED, des affichages, etc.

En outre, le système offre des techniques supplémentaires comme les tests optiques, le flashage ou l’étalonnage RTC, etc.

Avantages

Le test des cartes d’alimentation avec le SPEA 4080X offre de nombreux avantages :
Le taux de défaillance lors du test fonctionnel final (test de fin de ligne) est pratiquement nul.
Le diagnostic fiable et précis au niveau des composants réduit considérablement les coûts de réparation. Il n’est plus nécessaire de rechercher longuement et laborieusement la cause du défaut.
La détection précoce des défauts permet d’optimiser les procédures et les processus.
Les appareils de test pour les tests fonctionnels et de fin de ligne peuvent être simplifiés, ce qui réduit la durée totale des tests.

Caractéristiques de performance

Max. Hauteur de la pièce : 150 mm

Le SPEA 4080X a été conçu pour permettre de tester sans problème et dans leur intégralité des assemblages comportant des composants d’une hauteur maximale de 150 mm.
Aucun autre testeur à sondes mobiles n’est capable de tester des cartes comportant des composants de cette hauteur, tout en augmentant la profondeur de test, car il établit le contact là où les testeurs à lit d’aiguilles atteignent leurs limites.

Manipulation automatique des grandes planches

Fonctionnement sans opérateur, intégration directe dans les lignes SMT ou les cellules de test

Tests complets

Pas de défaillance lors du test final de fonctionnement/de mise en service, réduction des retours sur le terrain

Débit élevé

Coûts de test très bas, intégration directe dans les lignes SMT ou les cellules de test

180 contacts/sec

Une technique d’entraînement unique avec des moteurs linéaires et des encodeurs optiques sur tous les axes (X, Y et Z) garantit une accélération maximale et un contact extrêmement précis. La technique de la boucle fermée garantit une précision de répétition inégalée sur un nombre infini de courses.

Min. Taille du pad : 50 µm

La précision de contact extrêmement précise est obtenue grâce à des codeurs optiques linéaires sur tous les axes. Le SPEA 4080X contacte des pastilles de 50 μm à une vitesse maximale et avec une précision absolue, sans laisser de traces – une caractéristique unique dans le domaine des sondes volantes.
La force de pression programmable et la fonction d’atterrissage en douceur garantissent que même les composants électroniques les plus sensibles (pas ultra-fin, cartes collantes au démarrage du produit, assemblages flexibles) sont contactés avec précision et rapidité, sans risque de dommage.

Couverture maximale des erreurs

Le SPEA 4080X offre une gamme complète de possibilités de test avec une précision de mesure maximale. Plus la distance entre l’aiguille et l’instrument de mesure est courte, plus la mesure effectuée est rapide et précise. C’est pourquoi, dans les systèmes SPEA Flying Probe, les instruments de mesure et de stimulation sont positionnés directement sur les aiguilles sous forme de tête de test – le « concept de testeur volant ». C’est pourquoi les testeurs SPEA sont les plus rapides et les plus précis.

Châssis innovant en granit

Un châssis innovant en granit, associé à une technologie de moteur linéaire de pointe, offre une précision de contact inégalée avec une vitesse de test extrêmement rapide, tout en garantissant de faibles vibrations et une stabilité thermique maximale.
Par rapport au fer ou à l’acier conventionnels, le granit naturel offre les meilleures propriétés d’amortissement et de stabilité thermique, minimisant ainsi les vibrations et les effets de déformation qui pourraient nuire à la précision et à la fiabilité au fil du temps.

Espace compact au sol : 2,4 m2 (25,83 ft2)

L’encombrement du SPEA 4080X est très compact : il ne nécessite que 2,2 m2, alimentation en ligne comprise.

Peut remplacer les testeurs de lit d’aiguille

En raison de sa rapidité et de la productivité élevée qui en découle, le SPEA 4080X peut être utilisé sans problème là où seuls des testeurs à lit d’aiguilles étaient utilisés jusqu’à présent, par exemple aussi dans la production en série à haut volume.

Mesures de haute précision

Performance et précision de mesure très précises (0,1pF), Intégrité du signal, Pas de dégradation des résultats de mesure ou d’interférences, Acquisition instantanée du signal, Répétabilité unique en son genre

Jusqu’à 28 Top & Bottom Flying Tools

Les huit axes du SPEA 4080 (4 Top + 4 Bottom) permettent d’installer jusqu’à 28 outils de flying au total : En plus des sondes avec lesquelles tous les tests électriques sont effectués, une multitude d’autres outils sont disponibles pour étendre les performances de test du SPEA 4080.

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spea-3030x

Test de l’électronique de puissance

 

Test automatique de cartes complexes et de grande taille

Le SPEA 3030X a été développé pour le test sans adaptateur de modules d’électronique de puissance – y compris les onduleurs, les blocs d’alimentation, les alimentations et les modules à haute densité.

Le testeur transporte facilement et automatiquement des modules grands et lourds (10 kg et plus) et les teste ultra rapidement et avec une grande précision – numérique, analogique, électronique de puissance, supercondensateurs, tests sous haute tension ou de relais ainsi que tests de polarité et bien sûr éléments mécaniques tels que aimants, LED, écrans, etc.

En outre, le système offre des techniques supplémentaires telles que les tests optiques, le flashage ou l’étalonnage RTC, etc.

Avantages du SPEA 3030x

  • Tester des cartes d’alimentation avec le 3030X présente de grands avantages :
  • Le taux de défaillance lors du test fonctionnel final (End-of-Line-Test) est presque nul
  • Le diagnostic fiable et précis au niveau des composants réduit considérablement les coûts de réparation. Une recherche longue et fastidieuse de la cause de l’erreur n’est plus nécessaire.
  • La détection précoce des erreurs permet d’optimiser les procédures et les processus
  • Les équipements de test pour les tests fonctionnels et les tests de fin de ligne peuvent être simplifiés, ce qui permet de réduire la durée totale des tests.

Points forts

Manipulation automatique de grandes cartes
Fonctionnement sans opérateur, intégration directe dans les lignes SMT ou les cellules de test

Tests complets
Aucune défaillance lors du test fonctionnel/EOL final, réduction des retours sur le terrain

Débit élevé
Coûts de test les plus bas, capacité à respecter le temps de cycle de la ligne SMT

Testeur multifonction : couverture à 100 % avec 1 seul appareil

Du Manufacturing Defects Analyzer au système haute performance, les testeurs de cartes SPEA offrent une solution supérieure pour les tests fonctionnels paramétriques et dynamiques au niveau des composants, des clusters et des cartes. Nous testons 100% de tous les composants électroniques, mécaniques et électromécaniques sur le module.

Performance du test

Le SPEA 3030X offre une palette complète de techniques de test et détecte les composants défectueux et les erreurs de processus de manière sûre et fiable. Il réduit ainsi l’apparition de pannes ou d’erreurs non détectées lors du test de fonctionnement, et donc le risque de retours sur le terrain.

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SPEA 3030T Testeur de fonctions et de fin de ligne

SPEA 3030T Testeur fonctionnel et de fin de ligne pour des tests électroniques précis

Le testeur fonctionnel et de fin de ligne SPEA 3030T est un système de test compact et modulaire conçu pour effectuer des tests fonctionnels fiables et rentables sur des assemblages électroniques. Offrant une flexibilité maximale, ce système est idéal pour les applications de fabrication électronique où la qualité et la précision sont essentielles.

Rentable, flexible et fiable

Le testeur SPEA 3030T permet d’effectuer des tests fonctionnels de manière efficace et exhaustive. Grâce à son architecture modulaire, le système peut être configuré individuellement ou construit sur mesure (« built-to-order ») afin de répondre de manière optimale à des exigences de test spécifiques. Il convient ainsi aux entreprises qui ont besoin d’une solution de test économique mais performante.

Plateforme de test multifonctionnelle

Le testeur SPEA 3030T permet d’effectuer des tests multifonctions et garantit ainsi une couverture de test unique. L’utilisation de technologies de pointe permet de contrôler avec précision les composants électroniques, du simple test fonctionnel au test de fin de ligne complexe.

Les objets testés sont généralement les suivants :

  • Modules et composants électroniques
  • Alimentations électriques et onduleurs
  • PLC et appareils de commande
  • Smartphones et électronique grand public
  • Appareils de commande pour véhicules automobiles et commandes moteur

Design compact et ergonomique

Grâce à sa conception compacte en tour, le testeur fonctionnel et de fin de ligne SPEA 3030T ne nécessite que peu d’espace et s’intègre facilement dans les lignes de production existantes. Sa conception ergonomique facilite son utilisation et sa maintenance, ce qui réduit les temps d’arrêt et augmente l’efficacité.

Une technologie de test éprouvée dans le monde entier

Les testeurs fonctionnels SPEA sont utilisés dans le monde entier dans les usines de production afin de garantir le bon fonctionnement des appareils électroniques avant leur livraison. Avec le SPEA 3030T, les fabricants bénéficient d’un système alliant précision, modularité et rentabilité.

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SPEA T100 LED tester

Testeur LED SPEA T100 pour un calibrage et des tests précis

Le testeur LED SPEA T100 est un système de test ultramoderne destiné à l’étalonnage et aux tests électriques, optiques et mécaniques de divers appareils et composants électroniques. Ce système entièrement automatique réunit toutes les fonctions de test dans un seul appareil, pour plus d’efficacité, de précision et de flexibilité.

Tout dans un seul système – pour une précision maximale

Le testeur LED SPEA T100 a été développé pour tester et calibrer efficacement des produits complexes dans les domaines de la micro-optique, des MEMS, des capteurs et de la micromécanique. Grâce à huit têtes de test librement mobiles (quatre en haut, quatre en bas), différents tests peuvent être effectués simultanément et avec une grande précision. Aucun système de test supplémentaire n’est donc nécessaire : tout se déroule dans un processus unique et entièrement intégré.

Système de test automatisé avec des fonctions polyvalentes

Ce système de test automatique est entièrement programmable et peut être configuré pour différentes variantes de produits. Il combine des méthodes de test électriques, mécaniques et optiques et offre une couverture de test exceptionnelle. Le logiciel du système ATOS permet la génération automatique de tests et garantit des résultats précis et reproductibles.

Modules de test et actionneurs flexibles

Le testeur LED SPEA T100 peut être équipé de divers outils, notamment :

  • Actionneurs à pression pour composants sensibles à la pression tels que claviers ou écrans
  • Actionneurs Z pour des mouvements précis dans l’axe Z
  • Modules laser pour la mesure de la forme et de la planéité
  • Exposimètre pour tests LED, LIDAR ou d’affichage
  • Sources lumineuses et caméras pour AOI et contrôle de surface
  • Modules sonores pour tests acoustiques
  • Tournevis motorisés pour les tâches d’assemblage et d’étalonnage

Types de tests et méthodes de mesure

Le SPEA T100 prend en charge les procédures de test électriques, optiques, mécaniques et thermiques :

  • Électrique : test fonctionnel, test RF, flashage, mesure de puissance
  • Visuelle : AOI, test laser, contrôle de la lumière
  • Mécanique : test de pression et de mouvement
  • Thermique : mesure et régulation de la température

Les modules sont identifiés par des codes-barres 2D ou des systèmes RFID, ce qui facilite leur intégration dans les lignes de production automatisées.

Système en ligne pour une fabrication moderne

Le testeur optomécanique SPEA T100 peut être configuré en version en ligne et s’adapte ainsi parfaitement aux environnements de production à haut débit. Sa plateforme flexible offre de la place pour des actionneurs ou des outils de test supplémentaires et permet une couverture de test maximale.

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SPEA 3030 en ligne

SPEA 3030 Inline – Test parallèle quadruple, manipulation ultra-rapide.
Aucun opérateur nécessaire. Coûts de test minimaux.

Points forts du SPEA 3030 inline

  1. Débit multiplié par 4 grâce à l’architecture quadricœur
  2. Pas de frais pour les opérateurs
  3. Manipulation ultra-rapide en 3 secondes
  4. 5000+ tests/sec.
  5. Génération automatique de programmes de test
  6. Programmation en parallèle de circuits intégrés de différents types

Haut volume. Haute qualité.
Faibles coûts de test.

Le SPEA 3030 Inline est optimisé pour une utilisation dans un environnement de production automatisé. Il peut être intégré facilement dans les lignes de production SMEMA ou combiné avec des systèmes de chargement et de déchargement automatiques standard. Le système est modulaire et peut être configuré selon les besoins du client. Le SPEA 3030 Inline effectue des tests numériques en plus du test de circuit et contrôle les modules de l’électronique de puissance.

Quad Core für parallele Tests

Le SPEA 3030IL peut être configuré comme un système multicœur avec jusqu’à 4 cœurs indépendants, chacun doté d’un processeur, d’une mémoire locale et d’instruments indépendants. Il est ainsi possible de tester jusqu’à 4 sous-ensembles simultanément. Le débit du SPEA 3030 Inline est ainsi jusqu’à 400% plus élevé, ce qui minimise les coûts de test.

Manipulation ultra-rapide

Le SPEA 3030IL est équipé d’un module de manipulation repensé qui réduit de moitié le temps de manipulation par rapport au modèle précédent. 3 secondes suffisent pour manipuler un ensemble de taille moyenne – y compris le chargement, la pression et la libération de l’adaptateur et le déchargement final.

L’adaptateur et le programme de test sont compatibles avec les variantes à commande manuelle de la famille de systèmes

Le SPEA 3030 Inline est entièrement compatible avec les systèmes qui sont commandés manuellement. Vous pouvez passer d’un testeur en ligne à un testeur manuel et inversement. Ainsi, le débogage peut être effectué sur un système manuel et le système en ligne peut continuer à être utilisé dans la production.

Débit maximal grâce au multi-étape

Grâce à l’option Multi-Stage, le SPEA 3030IL peut exécuter différentes procédures de test simultanément (par exemple : test en circuit + test fonctionnel, test en circuit + flash, etc.). Cela optimise le temps de test et réduit les coûts.

Le SPEA 3030IL ne nécessite aucun opérateur. Le système fonctionne de manière entièrement automatique dans une production en ligne ou avec des chargeurs et déchargeurs. La commande se fait alors via SMEMA ou HERMES. Cela permet d’augmenter le débit et de réduire considérablement les coûts des tests.

Vitesse de test la plus élevée

Par rapport aux testeurs à lit d’aiguilles conventionnels, la vitesse de test du SPEA 3030 est nettement plus élevée. Une unité centrale dédiée dans chaque cœur garantit une communication sans retard entre les instruments et le PC. Des relais haute performance assurent des temps de commutation rapides. L’architecture du système minimise la configuration des instruments. En outre, il est possible d’effectuer différentes mesures simultanément avec un seul core.

Mise en contact contrôlée avec un récepteur motorisé

L’unité de contact électromécanique est directement intégrée dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation, l’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation ont été développés par SPEA comme une solution de test clé en main fiable et économique. Le contact avec le module est sûr et précis. La vitesse d’impression du récepteur peut être réglée en fonction de l’échantillon. L’abaissement se fait toujours de manière absolument plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030 Inline peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

ICT paramétrique à vitesse maximale

Le SPEA 3030 Inline peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur

La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de chaque test. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Des instruments de mesure de tiers peuvent également être intégrés sans problème.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

 

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SPEA 3030M

Couverture complète des erreurs
Débit élevé. Grande évolutivité.

Points forts du SPEA 3030M

  1. Les tests parallèles réduisent les coûts des tests
  2. Multifonction : couverture complète des erreurs
  3. Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur
  4. Test de l’électronique de puissance avec les modules de puissance SPEA
  5. Création automatique de programmes de test
  6. Programmation en parallèle de circuits intégrés de différents types

Possibilités de test multifonctions :
couverture à 100 % avec un seul système.

Le système de test DSPEA 3030M est un système multifonctionnel et modulaire qui peut être configuré selon les besoins spécifiques du client. Il offre une couverture complète des erreurs combinée à des coûts de test minimisés.

ÉCONOMISEZ DE L’ARGENT – Pourquoi acheter plusieurs testeurs si vous n’en avez besoin que d’un seul ? Le SPEA 3030M Inline permet d’effectuer tous les tests : tests en circuit, tests de grappes et tests fonctionnels, ainsi que la programmation embarquée et le boundary scan. Par rapport à plusieurs stations de test, les avantages sont énormes : pas d’opérateur supplémentaire, un seul programme de test, un encombrement réduit et des coûts d’exploitation moindres.

GAIN DE TEMPS – Réduction considérable du temps de test avec le SPEA 3030 Inline.
L’architecture système spécifique à SPEA, dotée de processeurs spéciaux, permet d’effectuer différents cycles de test. Les redondances, les manipulations fastidieuses et les contrôles de sous-ensembles sur plusieurs stations de test sont supprimés. Les sous-ensembles passent une seule fois par le SPEA 3030 Inline et sont contrôlés complètement et efficacement.

RÉDUCTION DES DÉFAUTS DE PRESSION – Le SPEA 3030M a été développé pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être détectées par les testeurs ICT conventionnels.

Quad Core für parallele Tests

Le SPEA 3030 multimode peut être équipé de jusqu’à 4 cœurs, chacun d’entre eux disposant d’une unité centrale indépendante, d’une mémoire locale et d’une instrumentation. Il est ainsi possible de contrôler jusqu’à 4 sous-ensembles en parallèle. Cela permet de réduire les coûts de test jusqu’à 75% par rapport aux testeurs ICT standard. Vous n’avez besoin que d’un testeur, d’une procédure de manipulation, d’un adaptateur et d’un PC pour tester quatre ensembles simultanément.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030 multimode peut être équipé d’un ou de plusieurs modules de flashage. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur

La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de chaque test. Soit vous configurez entièrement votre testeur à l’achat, soit vous l’équipez progressivement – tout est possible. Les instruments de mesure d’autres fabricants peuvent également être intégrés sans problème.
Les nombreuses possibilités d’adaptation, telles que les récepteurs à tiroir ou les interfaces enfichables, sont remarquables. Unité de contact en ligne, interface Pylon mais aussi interfaces spécifiques au client ou récepteurs de fournisseurs tiers (Genrad, Ingun, Zentel, etc.)

Un contact précis avec les récepteurs de SPEA

Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

Réduction des retours sur le terrain

Réduction des retours sur le terrain – Le SPEA 3030 multimode a été conçu pour aider les fabricants d’électronique à garantir la qualité de leurs produits. Grâce à l’utilisation de techniques de test innovantes, le SPEA 3030 multimode détecte de manière fiable les erreurs qui ne peuvent pas être identifiées par les testeurs ICT conventionnels.

Performance du test

  • Balayage des limites
    Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technique boundary-scan et des modules système du SPEA 3030 multimode permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).
  • Détection des broches ouvertes
    Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan.
  • Test fonctionnel
    Le SPEA 3030 Multimode permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc.
  • Architecture True-Per-Pin
    La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale.
  • ICT paramétrique à vitesse maximale
    L’ICT paramétrique dynamique à haute vitesse du SPEA 3030 Inline vérifie les paramètres de chaque composant individuel conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.
  • Transfert de programmes de test et d’adaptateurs vers d’autres testeurs
    Les testeurs SPEA reposent sur une architecture système commune. La plateforme matérielle et logicielle est conçue de manière à ce que les programmes de test et les adaptateurs puissent être transférés d’un système à l’autre. Pour les programmes de test, cela ne vaut pas seulement au sein de la famille de systèmes SPEA 3030, mais aussi entre les testeurs Board et Flying Probe. Cela permet une flexibilité maximale dans la production.

 

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SPEA 3030CE

Débit élevé. Couverture élevée des défauts.
Entièrement compatible avec le SPEA 3030 Inline.

Points forts

  1. Double test parallèle
  2. Unité de contact compatible avec SPEA 3030 Inline
  3. ICT paramétrique à haute vitesse
  4. Développement automatique d’applications
  5. Des méthodes de contrôle variées

Entièrement compatible avec le SPEA 3030 Inline

Le SPEA 3030 Compact extended est un testeur à lit d’aiguilles économique à manipulation manuelle, compatible avec le SPEA 3030 Inline. L’adaptateur, l’unité de pression et le programme de test peuvent être portés rapidement et facilement du SPEA 3030 CE sur le testeur en ligne – et inversement. Le testeur est modulaire, configurable selon les besoins du client et, grâce aux tests parallèles dual core, il permet de doubler le débit. Il offre de multiples procédures de contrôle et possibilités de test ainsi qu’une couverture à 100% des erreurs.

Tests parallèles

Le SPEA 3030 Compact extended peut être équipé de jusqu’à 2 cœurs, chacun avec une unité centrale indépendante, une mémoire locale et une instrumentation. Il est ainsi possible de contrôler en parallèle jusqu’à 2 sous-ensembles.

Transfert d’adaptateurs et de programmes de test sur le SPEA 3030 Inline

L’unité de contact et de pression et le programme de test sont entièrement compatibles avec le SPEA 3030 Inline. Ils peuvent rapidement et facilement faire passer leur production d’un système à commande manuelle à un système entièrement automatique et vice versa, en fonction de leurs besoins de production.

Architecture indépendante du PC

Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.

Flasher plusieurs composants en parallèle

Le SPEA 3030CE peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.

Un contact précis avec les récepteurs de SPEA

Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous forme de solution de test clé en main fiable et économique.
La connexion du module est sûre et précise. La vitesse de pression du récepteur électromécanique à tiroir SPEA peut être réglée en fonction de l’échantillon testé.
L’abaissement s’effectue toujours de manière parfaitement plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.

ICT paramétrique à vitesse maximale

L’ICT paramétrique dynamique à grande vitesse du SPEA 3030 Inline contrôle les paramètres de chaque composant conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.

Performance du test

  • Architecture True-Per-Pin
    La fiabilité des tests sur des modules analogiques ou numériques complexes est garantie par l’électronique directe sur broches de SPEA. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale.
  • Détection des broches ouvertes
    Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (broches ouvertes) et autres erreurs de processus : Electro Scan et Junction Scan.
  • Test fonctionnel
    Le SPEA 3030CE permet non seulement d’effectuer des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc.
  • Configurable selon les besoins du client et pouvant être équipé ultérieurement de manière flexible
    La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de test respectives. Vous pouvez soit configurer votre testeur complètement lors de l’
    achat, soit l’équiper progressivement – tout est possible. Des instruments de mesure de tiers peuvent également être intégrés sans problème. Les nombreuses possibilités d’adaptation sont remarquables, comme par exemple les récepteurs à tiroir, l’interface à fiche. Unité de contact en ligne, interface Pylon mais aussi interfaces ou récepteurs tiers spécifiques au client (Genrad, Ingun, Zentel, etc.).
  • Balayage des limites
    Le balayage des limites est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technique boundary-scan et des modules système du SPEA 3030 Compact Extended permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).

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