SPEA 3030BT – Testen war noch nie so einfach
SPEA 3030BT In-Circuit Tester – kompakt, präzise, leistungsstark
Der SPEA 3030BT In-Circuit Tester ist ein kompakter und kostengünstiger Tester für präzise Elektronikprüfungen. Trotz seines geringen Platzbedarfs bietet er die volle Performance der SPEA 3030-Serie. Mit moderner Technologie, einfacher Bedienung und flexibler Integration ist der Tester die ideale Lösung für Fertigungsumgebungen mit begrenztem Raum und hohen Qualitätsanforderungen.
Einfaches Testen mit maximaler Effizienz
Mit dem SPEA 3030BT In-Circuit Tester war Testen noch nie so einfach. Die benutzerfreundliche Systemsoftware Leonardo ermöglicht eine automatische Testprogrammerstellung und ein schnelles Debugging. In nur wenigen Schritten führt die Software den Anwender vom Datenimport bis zum stabilen Testprogramm. Das System kann per USB mit einem PC oder Notebook verbunden und sofort eingesetzt werden – unkompliziert, effizient und zuverlässig.
Hohe Testleistung auf kleinstem Raum
Der SPEA 3030BT In-Circuit Tester benötigt nur minimalen Platz und kann sowohl als Benchtop-Gerät als auch in einem Standard-19″-Rack verwendet werden. Seine ergonomische Bauweise mit Frontgriffen erleichtert den Transport und macht ihn zur perfekten Lösung für flexible Produktionsumgebungen. Trotz seiner kompakten Größe arbeitet der Tester mit denselben leistungsfähigen Hardwaremodulen wie größere Systeme der SPEA 3030-Serie.
PC-unabhängige Architektur für stabile Performance
Die interne CPU des3030BT In-Circuit Testers sorgt dafür, dass das Testprogramm unabhängig vom PC läuft. Dadurch bleibt die Testgeschwindigkeit konstant – auch wenn der angeschlossene Computer andere Prozesse ausführt oder ausgetauscht wird. Diese Architektur erhöht die Betriebssicherheit und minimiert Ausfallzeiten im Produktionsablauf.
Zuverlässige Fehlererkennung und Testabdeckung
Der SPEA 3030BT In-Circuit Tester bietet umfassende Testfunktionen, darunter:
- In-Circuit-Test für Kurzschlüsse, Open Pins und fehlerhafte Bauteile
- Open-Pin-Erkennung durch Electro Scan und Junction Scan
- True-Per-Pin-Architektur mit 1:1 unabhängigen Messkanälen
- 16-Bit-Instrumentierung und 8-Draht-Messungen für höchste Genauigkeit
Diese Technologien ermöglichen eine präzise Identifikation von Prozessfehlern, die von herkömmlichen ICT-Testern oft übersehen werden.
Modularität und Zukunftssicherheit
Dank seiner modularen Architektur kann der SPEA 3030BT In-Circuit Tester flexibel an individuelle Anforderungen angepasst werden. Hersteller profitieren von einer langlebigen Testlösung, die sich problemlos erweitern und modernisieren lässt – eine Investition, die sich langfristig auszahlt.
