Tester in-circuit con massimo parallelismo
Test parallelo a 32 volte
Il tester per schede SPEA T300 ha un’architettura unica, con fino a 32 core di test incircuit paralleli e una capacità aggiuntiva di 256 core per i test di flashing e funzionali. L’architettura parallela asincrona dello SPEA T300 consente di testare e di eseguire il flashing in parallelo di un massimo di 32 PCBA (Printed Circuit Board Assembly).
Il tester ad aghi SPEA T300 offre l’esclusiva tecnologia ICT-Plus di SPEA, che individua i guasti elettronici non rilevati dai test ICT convenzionali.
Test e flash di una serie di gruppi in parallelo
Molti assemblaggi sono prodotti in pannelli, cioè alcuni o un gran numero di assemblaggi sono collegati in un pannello per formare un grande PCB. Ognuno di questi singoli gruppi contiene a sua volta da pochi a innumerevoli componenti e parti che devono essere testati e programmati.
Il nuovo tester per schede T300 di SPEA è stato sviluppato appositamente per i test dell’utente o per testare e programmare molte schede contemporaneamente. Garantisce quindi la massima produttività e i più bassi costi di test e programmazione.
Programmabile come stazione di test singola o doppia
Lo SPEA T300 può essere programmato come stazione di test singola o doppia.
In modalità Single Test Site, una singola scheda può essere sottoposta a TIC e a test di funzionamento e flashing.
Il doppio lato di prova consente di testare due schede contemporaneamente. Questo vale per l’ICT, la programmazione flash e il test funzionale. Per raddoppiare il rendimento, il tester può eseguire uno split test. Alla stazione 1, ad esempio, viene eseguito un TIC, mentre alla stazione 2 viene eseguito contemporaneamente un lampeggio o un test di funzionamento.
Test senza operatore
Lo SPEA T300 può essere configurato in diverse modalità operative automatizzate che funzionano senza operatore
- Carico in linea – Scarico in linea
- Caricamento da scaffale – scarico in linea [1]
- Carico in linea – scarico in rack [1] [2]
- Carico dal rack – Scarico nel rack [1] [2]
[1] Opzione: caricamento della scaffalatura tramite robot
[2] Opzione: Passare – Non passare – Ordinare
Tester in-circuit – connessi all’ecosistema digitale
Lo SPEA T300 è in scambio con l’ambiente Industrie 4.0 e l’ecosistema digitale – in termini di informazioni, notifiche, comandi di programmazione e istruzioni della macchina.
Il tester è dotato di sensori per rilevare e osservare l’ambiente, le parti soggette a usura e quelle in movimento, le alimentazioni elettriche e pneumatiche e l’alimentazione interna ed esterna. Questo lo autorizza a:
- Supporto per la manutenzione predittiva
- Rilevamento anticipato degli errori che potrebbero causare malfunzionamenti
- Stima dell’usura e della vita utile residua delle parti della macchina
Lo SPEA T300 è progettato per un uso continuo e intensivo anche in ambienti di produzione difficili. Facilità di manutenzione: la manutenzione può essere effettuata in modo semplice e rapido.
ATOS Leonardo 4 ICT è la versione T300 del software di sistema ATOS che SPEA ha sviluppato per i suoi tester.
ATOS contiene tutte le funzioni operative e di programmazione necessarie per il tester. In questo modo si è indipendenti dalla versione di Windows® e dalla configurazione e dalle prestazioni del PC di sistema.
