Débit élevé. Couverture élevée des erreurs.
Entièrement compatible avec le SPEA 3030 Inline.
Points forts
- Double test parallèle
- Unité de contact compatible avec SPEA 3030 Inline
- ICT paramétrique à haute vitesse
- Développement automatique d’applications
- Des méthodes de contrôle variées
Entièrement compatible avec le SPEA 3030 Inline
Le SPEA 3030 Compact extended est un testeur à lit d’aiguilles économique à manipulation manuelle, compatible avec le SPEA 3030 Inline. L’adaptateur, l’unité de pression et le programme de test peuvent être portés rapidement et facilement du SPEA 3030 CE sur le testeur en ligne – et inversement. Le testeur est modulaire, configurable selon les besoins du client et, grâce aux tests parallèles dual core, il permet de doubler le débit. Il offre de multiples procédures de contrôle et possibilités de test ainsi qu’une couverture à 100% des erreurs.
Tests parallèles
Le SPEA 3030 Compact extended peut être équipé de jusqu’à 2 cœurs, chacun avec une unité centrale indépendante, une mémoire locale et une instrumentation. Il est ainsi possible de contrôler en parallèle jusqu’à 2 sous-ensembles.
Transfert d’adaptateurs et de programmes de test sur le SPEA 3030 Inline
L’unité de contact et de pression et le programme de test sont entièrement compatibles avec le SPEA 3030 Inline. Ils peuvent rapidement et facilement faire passer leur production d’un système à commande manuelle à un système entièrement automatique et vice versa, en fonction de leurs besoins de production.
Architecture indépendante du PC
Avec l’architecture indépendante du PC du SPEA 3030, le programme de test fonctionne dans l’unité centrale du testeur et la vitesse de test est déterminée par celle-ci. Cela permet également de garantir que les programmes d’arrière-plan du PC n’influencent pas la vitesse du test. En outre, le PC peut être mis à jour ou remplacé à tout moment, sans qu’il soit nécessaire de déboguer à nouveau les programmes de test.
Flasher plusieurs composants en parallèle
Le SPEA 3030CE peut être équipé d’un ou de plusieurs modules Flashing. Il est ainsi possible de programmer en parallèle des composants identiques ou différents. Les temps de flashage et les coûts sont considérablement réduits.
Un contact précis avec les récepteurs de SPEA
Les unités de contact sont directement intégrées dans le système de test. Cela signifie qu’il n’y a pas de câbles gênants entre les modules du système et l’adaptation. L’intégrité du signal est garantie. Le système de test et l’adaptation sont fournis par SPEA sous la forme d’une solution de test clé en main fiable et économique.
Le contact avec le module est sûr et précis. Dans le cas du récepteur à tiroir électromécanique SPEA, la vitesse de pression peut être réglée en fonction de l’échantillon.
L’abaissement se fait toujours de manière absolument plane. Le niveau de contact est librement programmable par incréments de 100 µm. Il est ainsi possible de réaliser différents niveaux de contact, par exemple pour le contact à 2 niveaux lors du test de fonctionnement.
ICT paramétrique à vitesse maximale
L’ICT paramétrique dynamique à grande vitesse du SPEA 3030 Inline contrôle les paramètres de chaque composant conformément à la fiche technique. Ces tests sont générés automatiquement à l’aide de bibliothèques de composants. Cela signifie des temps de création de programmes courts, des temps de test courts et des taux de couverture d’erreurs très élevés.
Performance du test
- Architecture True-Per-Pin
L’électronique directe Pine de SPEA est garante de tests fiables de modules analogiques ou numériques complexes. Non multiplexée, l’électronique Pine fournit sur chaque canal (1:1) un canal de stimulation et de mesure totalement indépendant. Cela offre plusieurs avantages : génération plus rapide des tests, gestion ECO simple, flexibilité totale. - Reconnaissance Open-Pin
Deux techniques de test différentes sont disponibles pour identifier clairement les broches non soudées (Open Pins) et autres défauts de processus : Electro Scan et Junction Scan. - Test de fonctionnement
Le SPEA 3030CE offre non seulement des tests fonctionnels au niveau des composants, mais aussi au niveau des clusters et des cartes. Le paramétrage s’effectue dans le logiciel système Leonardo ou, au choix, au moyen de langages de programmation supérieurs tels que Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, etc. - Configurable selon les besoins du client & flexible pour l’équipement ultérieur
La flexibilité sans compromis de nos testeurs garantit une configuration individuelle qui répond de manière optimale aux exigences de chaque test. Soit vous configurez entièrement votre testeur chez
achat ou ils s’équipent progressivement – tout est possible. Des instruments de mesure de tiers peuvent également être intégrés sans problème. Les nombreuses possibilités d’adaptation sont remarquables, comme par exemple les récepteurs à tiroir, l’interface à fiche. Unité de contact en ligne, interface Pylon mais aussi interfaces ou récepteurs tiers spécifiques au client (Genrad, Ingun, Zentel, etc.). - Balayage des frontières
Boundary Scan est utilisé lorsqu’il n’est pas possible d’accéder physiquement à certaines parties du circuit. Il est ainsi possible de tester des modules très complexes, la technologie Fine Pitch, les multicouches et les BGA sans contact direct avec les aiguilles de test. L’utilisation parallèle de la technique boundary-scan et des modules système du SPEA 3030 Compact Extended permet une couverture plus large des défauts tout en réduisant les coûts d’adaptation (points de test virtuels au lieu d’aiguilles de test réelles).
