Alta produttività. Elevata copertura degli errori.
Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline.
Highlights
- Test parallelo 2 volte
- Kontaktblock kompatibel mit SPEA 3030 Inline
- TIC parametrico ad alta velocità
- Sviluppo automatico di applicazioni
- Diversi metodi di test
Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline
SPEA 3030 Compact extended è un tester a letto d’aghi economico con gestione manuale, compatibile con SPEA 3030 Inline. L’adattatore, l’unità di pressione e il programma di test possono essere trasferiti in modo rapido e semplice dallo SPEA 3030 CE al tester in linea e viceversa. Il tester ha un design modulare, può essere personalizzato e, grazie ai test paralleli dual-core, consente di raddoppiare la produttività. Offre un’ampia gamma di procedure e opzioni di test e una copertura del 100% dei guasti.
Test in parallelo
Lo SPEA 3030 Compact extended può essere dotato di un massimo di 2 core, ciascuno con CPU indipendente, memoria locale e strumentazione. Ciò consente di testare fino a 2 gruppi in parallelo.
Trasferimento di adattatori e programmi di test allo SPEA 3030 Inline
L’unità di contatto e pressione e il programma di test sono completamente compatibili con lo SPEA 3030 Inline. È possibile passare rapidamente e facilmente da un sistema con funzionamento manuale a un sistema completamente automatico e viceversa, a seconda delle esigenze di produzione.
Architettura indipendente dal PC
Con l’architettura indipendente dal PC dello SPEA 3030, il programma di test viene eseguito nella CPU del tester e la velocità del test è determinata da questo. In questo modo si garantisce anche che i programmi in background del PC non influiscano sulla velocità del test. Inoltre, il PC può essere aggiornato o sostituito in qualsiasi momento senza la necessità di eseguire nuovamente il debug dei programmi di test.
Lampeggio parallelo di più componenti
Lo SPEA 3030CE può essere dotato di uno o più moduli lampeggianti. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.
Contatto preciso con i ricevitori SPEA
Le unità di contatto sono integrate direttamente nel sistema di test. Ciò significa che non ci sono cavi di disturbo tra i moduli di sistema e l’adattamento. L’integrità del segnale è garantita. Il sistema di test e l’adattamento sono forniti da SPEA come soluzione di test affidabile e conveniente “chiavi in mano”.
Il contatto dell’assemblaggio è sicuro e preciso. Con il ricevitore elettromeccanico del cassetto SPEA, la velocità della pressione di contatto può essere impostata in modo specifico per il provino.
L’abbassamento è sempre assolutamente planare. Il livello di contatto è liberamente programmabile in passi di 100 µm. Ciò consente di realizzare diversi livelli di contatto, ad esempio per un contatto a due fasi durante il test di funzionamento.
TIC parametrico alla massima velocità
L’ICT parametrico-dinamico ad alta velocità dello SPEA 3030 Inline controlla i parametri di ogni singolo componente in base alla scheda tecnica. Questi test vengono generati automaticamente con l’aiuto delle librerie di componenti. Ciò significa tempi brevi di creazione del programma, tempi brevi di test e tassi massimi di copertura degli errori.
Testperformance
- Architettura True-Per-Pin
L’elettronica a pin diretto di SPEA garantisce il collaudo affidabile di complessi gruppi analogici o digitali. Quando non è multiplexata, l’elettronica dei pin fornisce uno stimolo e un canale di misura completamente indipendenti su ciascun canale (1:1). Questo offre diversi vantaggi: generazione più rapida dei test, gestione semplice dell’ECO, piena flessibilità. - Rilevamento del pin aperto
Sono disponibili due diverse tecniche di test per identificare chiaramente i pin non saldati (pin aperti) e altri difetti di processo: Electro Scan e Junction Scan. - Test di funzionamento
Lo SPEA 3030CE non offre solo test funzionali a livello di componenti, ma anche di cluster e schede. La parametrizzazione viene eseguita nel software di sistema Leonardo o, a scelta, utilizzando linguaggi di programmazione superiori come Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, ecc. - Personalizzabile e adattabile in modo flessibile
La flessibilità senza compromessi dei nostri tester garantisce una configurazione personalizzata che soddisfa in modo ottimale i rispettivi requisiti di prova. È possibile configurare completamente il tester nella sezione
Acquistare o aggiornare successivamente: tutto è possibile. Anche gli strumenti di misura di terze parti possono essere facilmente integrati. L’ampia gamma di opzioni di adattamento, come i ricevitori a cassetto e le interfacce a spina, è eccezionale. Unità di contatto in linea, interfaccia Pylon ma anche interfacce personalizzate o ricevitori di fornitori terzi (Genrad, Ingun, Zentel, ecc.). - Scansione dei confini
La scansione perimetrale viene utilizzata quando non è possibile accedere fisicamente alle singole parti del circuito. Ciò significa che assemblaggi molto complessi, tecnologia a passo fine, multistrati e BGA possono essere testati senza contatto diretto con le sonde. L’uso parallelo della tecnologia boundary scan e dei moduli di sistema dello SPEA 3030 Compact Extended consente una più ampia copertura dei guasti, riducendo al contempo i costi di adattamento (punti di test virtuali anziché aghi di test reali).