Oct. 2023 SPEA : T300 NOUVEAU TESTEUR IN-CIRCUIT AVEC PARALLÉLISME MAXIMAL

Testeur in-circuit avec parallélisme maximal

32 fois le test parallèle

Le testeur de cartes SPEA T300 possède une architecture de test unique en son genre, avec jusqu’à 32 cœurs de test incircuit parallèles et une capacité supplémentaire de 256 cœurs pour le flashing et les tests fonctionnels. Grâce à l’architecture parallèle asynchrone du SPEA T300, il est possible de tester et de flasher en parallèle jusqu’à 32 PCBA (Printed Circuit Board Assembly).

Le testeur de lit d’aiguilles SPEA T300 offre la technique unique ICT-Plus de SPEA, qui permet de trouver des défauts électroniques qui ne sont pas détectés par les tests ICT traditionnels.

Testez et flashez un grand nombre de modules en parallèle

De nombreux modules sont fabriqués dans le sens de la largeur, c’est-à-dire que peu ou beaucoup de modules sont assemblés dans le sens de la largeur pour former un grand circuit imprimé. Chacun de ces sous-ensembles individuels contient à son tour de quelques à d’innombrables composants et éléments qui doivent être contrôlés et programmés.

Le nouveau testeur de carte T300 de SPEA a été spécialement conçu pour les tests d’utilisation ou pour les tests et la programmation de nombreux modules en même temps. Il garantit ainsi un débit maximal et des coûts de test et de programmation minimaux.

Programmable comme station de test simple ou double

Le SPEA T300 peut être programmé comme station de test simple ou double.

Le mode Single Test Site permet de tester et de flasher une seule carte ICT et fonctionnelle.

Dual Test Side permet de tester deux platines en même temps. Cela vaut pour les TIC, la programmation flash et les tests fonctionnels. Pour doubler le débit, le testeur peut effectuer un split test. Par exemple, un ICT est effectué à la station 1 tandis qu’à la station 2, soit on flashe, soit on effectue un test de fonctionnement.

Test sans opérateur

Le SPEA T300 peut être configuré en plusieurs modes de fonctionnement automatisés qui fonctionnent sans opérateur

• Chargement en ligne – Déchargement en ligne
• Chargement à partir d’un rack – Déchargement en ligne ^[1]
• Chargement en ligne – Déchargement en rack ^{[1] [2]}
• Chargement depuis le rack – déchargement dans le rack ^{[1] [2]}

[1] Option : chargement des racks par robot
[2] Option : Pass – Fail – Tri

Testeur in-circuit – connecté à l’écosystème numérique

Le SPEA T300 échange avec l’environnement industriel 4.0 et l’écosystème numérique – en termes d’informations, de notifications, d’ordres de programmation et d’instructions machine.

Le testeur possède des capteurs pour détecter et observer l’environnement, les pièces d’usure et les pièces mobiles, les alimentations électriques et pneumatiques et l’alimentation électrique interne et externe. Cela lui permet de

• Soutien à la maintenance prédictive
• détection en amont des erreurs qui entraîneraient des dysfonctionnements
• Estimation de l’usure et de la durée de vie restante des pièces de machines

Le SPEA T300 a été développé pour une utilisation durable et intensive, même dans des environnements de production difficiles. Facilité d’entretien – l’entretien peut être effectué facilement et rapidement.

ATOS Leonardo 4 ICT est la version T300 du logiciel système ATOS que SPEA a développé pour ses testeurs.

ATOS comprend toutes les fonctions de commande et de programmation dont on a besoin pour le testeur. On est ainsi indépendant de la version de Windows® ainsi que de la configuration et des performances du PC système.