Testeur in-circuit avec parallélisme maximal 32 fois le test parallèle Le testeur de cartes SPEA T300 possède une architecture de test unique en son genre, avec jusqu’à 32 cœurs de test incircuit parallèles et une capacité supplémentaire de 256 cœurs pour le flashing et les tests fonctionnels. Grâce à l’architecture parallèle asynchrone du SPEA T300, […]