Copertura completa dei guasti
Alta produttività. Elevata scalabilità.
Highlights
- I test in parallelo riducono i costi
- Multifunzione: copertura completa dei guasti
- Personalizzabile e adattabile in modo flessibile
- Test dell’elettronica di potenza con i moduli di potenza SPEA
- Creazione automatica del programma di test
- Programmazione parallela di circuiti integrati di diverso tipo
Opzioni di test multifunzionali:
Copertura al 100% con un solo sistema.
Lo SPEA 3030 Multimode è un sistema di test modulare e multifunzionale che può essere configurato in base alle specifiche del cliente. Offre una copertura completa dei guasti in combinazione con costi di test ridotti al minimo.
RISPARMIO DI SOLDI – Perché acquistare diversi tester quando ne basta uno? Tutti i test possono essere eseguiti con lo SPEA 3030 Inline: Test di circuito, di cluster e di funzionamento, nonché programmazione a bordo e boundary scan. Rispetto a diverse stazioni di prova, i vantaggi sono enormi: nessun personale operativo aggiuntivo, un unico programma di prova, spazio ridotto e costi operativi inferiori.
RISPARMIO DI TEMPO – Riducete drasticamente i tempi di verifica con lo SPEA 3030 Inline.
L’architettura di sistema specifica per SPEA, con processori speciali, consente di eseguire diverse sequenze di test. Non sono più necessarie ridondanze, manipolazioni lunghe e test di gruppi in diverse stazioni di prova. I gruppi passano una volta attraverso lo SPEA 3030 Inline e vengono testati in modo completo ed efficiente.
RIDUZIONE DEI PRESSORI DI CAMPO – Lo SPEA 3030 è stato sviluppato per aiutare i produttori di elettronica a garantire la qualità dei loro prodotti. Utilizzando tecniche di test innovative, lo SPEA 3030 rileva in modo affidabile i guasti che non possono essere riconosciuti dai tester ICT tradizionali.
Quad-core per test paralleli
Lo SPEA 3030 Multimode può essere dotato di un massimo di 4 core, ciascuno con CPU, memoria locale e strumentazione indipendenti. Ciò consente di testare fino a 4 gruppi in parallelo. Questo riduce i costi di collaudo fino al 75% rispetto ai tester ICT standard. Per testare quattro gruppi simultaneamente sono sufficienti un tester, una procedura di manipolazione, un adattatore e un PC.
Lampeggio parallelo di più componenti
Lo SPEA 3030 Multimode può essere dotato di uno o più moduli di lampeggiamento. In questo modo è possibile programmare in parallelo componenti identici e diversi. I tempi e i costi di lampeggio sono notevolmente ridotti.
Architettura indipendente dal PC
Con l’architettura indipendente dal PC dello SPEA 3030, il programma di test viene eseguito nella CPU del tester e la velocità del test è determinata da questo. In questo modo si garantisce anche che i programmi in background del PC non influiscano sulla velocità del test. Inoltre, il PC può essere aggiornato o sostituito in qualsiasi momento senza la necessità di eseguire nuovamente il debug dei programmi di test.
Personalizzabile e adattabile in modo flessibile
La flessibilità senza compromessi dei nostri tester garantisce una configurazione personalizzata che soddisfa in modo ottimale i rispettivi requisiti di prova. Potete configurare il vostro tester completamente al momento dell’acquisto o aggiornarlo gradualmente: tutto è possibile. Anche gli strumenti di misura di terze parti possono essere facilmente integrati.
L’ampia gamma di opzioni di adattamento, come i ricevitori a cassetto e le interfacce a spina, è eccezionale. Unità di contatto in linea, interfaccia Pylon ma anche interfacce personalizzate o ricevitori di fornitori terzi (Genrad, Ingun, Zentel, ecc.).
Contatto preciso con i ricevitori SPEA
Le unità di contatto sono integrate direttamente nel sistema di test. Ciò significa che non ci sono cavi di disturbo tra i moduli di sistema e l’adattamento. L’integrità del segnale è garantita. Il sistema di test e l’adattamento sono forniti da SPEA come soluzione di test affidabile e conveniente “chiavi in mano”.
Il contatto dell’assemblaggio è sicuro e preciso. Con il ricevitore elettromeccanico del cassetto SPEA, la velocità della pressione di contatto può essere impostata in modo specifico per il provino.
L’abbassamento è sempre assolutamente planare. Il livello di contatto è liberamente programmabile in passi di 100 µm. Ciò consente di realizzare diversi livelli di contatto, ad esempio per un contatto a due fasi durante il test di funzionamento.
Riduzione dei ritorni di campo
Riduzione dei ritorni di campo – Lo SPEA 3030 Multimode è stato sviluppato per aiutare i produttori di elettronica a garantire la qualità dei loro prodotti. Grazie all’utilizzo di tecniche di test innovative, lo SPEA 3030 Multimode rileva in modo affidabile i guasti che non possono essere riconosciuti dai tester ICT tradizionali.
Testperformance
- Scansione dei confini
La scansione perimetrale viene utilizzata quando non è possibile accedere fisicamente alle singole parti del circuito. Ciò significa che assemblaggi molto complessi, tecnologia a passo fine, multistrati e BGA possono essere testati senza contatto diretto con le sonde. L’uso parallelo della tecnologia boundary scan e dei moduli di sistema dello SPEA 3030 Multimode consente una più ampia copertura dei guasti, riducendo al contempo i costi di adattamento (punti di test virtuali invece di aghi di test reali). - Rilevamento del pin aperto
Sono disponibili due diverse tecniche di test per identificare chiaramente i pin non saldati (pin aperti) e altri difetti di processo: Electro Scan e Junction Scan. - Test di funzionamento
Lo SPEA 3030 Multimode non solo offre test funzionali a livello di componenti, ma anche a livello di cluster e schede. La parametrizzazione viene eseguita nel software di sistema Leonardo o, a scelta, utilizzando linguaggi di programmazione superiori come Microsoft C++, Visual Basic, Borland, Delphi, LabView, ecc. - Architettura True-Per-Pin
L’elettronica a pin diretto di SPEA garantisce il collaudo affidabile di complessi gruppi analogici o digitali. Quando non è multiplexata, l’elettronica dei pin fornisce uno stimolo e un canale di misura completamente indipendenti su ciascun canale (1:1). Questo offre diversi vantaggi: generazione più rapida dei test, gestione semplice dell’ECO, piena flessibilità. - TIC parametrico alla massima velocità
L’ICT parametrico-dinamico ad alta velocità dello SPEA 3030 Inline controlla i parametri di ogni singolo componente in base alla scheda tecnica. Questi test vengono generati automaticamente con l’aiuto delle librerie di componenti. Ciò significa tempi brevi di creazione del programma, tempi brevi di test e tassi massimi di copertura degli errori. - Trasferimento di programmi di test e adattatori ad altri tester
I tester SPEA si basano su un’architettura di sistema comune. La piattaforma hardware e software è progettata in modo da poter trasferire i programmi di test e gli adattatori da un sistema all’altro. Nei programmi di test, questo vale non solo all’interno della famiglia di sistemi SPEA 3030, ma anche tra i tester a scheda e quelli a sonda volante. Ciò consente la massima flessibilità di produzione.