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Tester in-circuit con massimo parallelismo Test parallelo a 32 volte Il tester per schede SPEA T300 ha un’architettura unica, con fino a 32 core di test incircuit paralleli e una capacità aggiuntiva di 256 core per i test di flashing e funzionali. L’architettura parallela asincrona dello SPEA T300 consente di testare e di eseguire il […]
Test parallelo 4 volte, manipolazione ultraveloce manipolazione. Non è necessario un operatore. Costi di test minimi. Highlights throughput 4 volte w con architettura quad-core Nessun costo per il personale operativo Movimentazione ultraveloce in 3 secondi Oltre 5000 test/sec. Generazione automatica del programma di test Programmazione parallela di circuiti integrati di diverso tipo Alto volume. Alta […]
Copertura completa dei guasti Alta produttività. Elevata scalabilità. Highlights I test in parallelo riducono i costi Multifunzione: copertura completa dei guasti Personalizzabile e adattabile in modo flessibile Test dell’elettronica di potenza con i moduli di potenza SPEA Creazione automatica del programma di test Programmazione parallela di circuiti integrati di diverso tipo Opzioni di test multifunzionali: […]
Alta produttività. Elevata copertura degli errori. Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline. Highlights Test parallelo 2 volte Kontaktblock kompatibel mit SPEA 3030 Inline TIC parametrico ad alta velocità Sviluppo automatico di applicazioni Diversi metodi di test Completamente compatibile con lo SPEA 3030 Inline SPEA 3030 Compact extended è un tester a letto d’aghi economico […]
Ingombro ridotto, elevata copertura dei guasti Highlights Test parallelo 2 volte Spazio ridotto TIC parametrico ad alta velocità Sviluppo automatico di applicazioni Ampia gamma di metodi di test: ICT, FKT, flashing Compatto. Potente. L’SPEA 3030 Compact è progettato per test in-circuit rapidi ed economici. Con un ingombro ridotto, offre le massime possibilità di test. Il […]
Non è necessario uno spazio aggiuntivo. Alta produttività. Highlights Non è necessario uno spazio aggiuntivo Opzioni di test multifunzionali Può essere integrato in qualsiasi cella di produzione Tester di schede multi-core senza necessità di spazio aggiuntivo Riducete lo spazio necessario a zero con il tester per schede Rack SPEA 3030. Il tester può essere facilmente […]
I test non sono mai stati così facili Highlights Tester conveniente con un ingombro ridotto Rapido test in-circuit e scansione dei pin aperti Creazione automatica del programma di test Collegamento USB al PC/notebook Rileva in modo affidabile gli errori di processo Le prestazioni non sono mai state così favorevoli Lo SPEA 3030 da banco è […]
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